[发明专利]一种高级光谱校正方法

权利要求书

1.一种高级光谱校正方法，其特征在于，光谱仪器的光谱测量范围为(λ_min，λ_max)，其中最大测量波长λ_max是最小测量波长λ_min的两倍以上，(λ_min，2λ_min)区域为短波自由波段，(2λ_min，λ_max)区域为长波叠加波段，使用光辐射仅限于短波自由波段的校准光源校正任意待测光源的高级光谱，其步骤为：

(a)测量所述校准光源在短波自由波段的一级光谱功率分布I₁(λ′_s)(λ_min＜λ′_s＜2λ_min)和长波叠加波段的高级光谱功率分布I_i(λ′_s)(λ_min＜λ′_s＜2λ_min，i＝2，3，4....n)；

(b)将I_i(λ′_s)与I₁(λ′_s)分别按对应波长位置的光谱辐照度值相比，得到该光谱仪器的高级光谱函数f_i(λ′_s)(λ_min＜λ′_s＜2λ_min，i＝2，3，4....n)；

(c)测量任意待测光源全波段的光谱功率分布I^m(λ_a)(λ_min＜λ_a＜λ_max)；

(d)用步骤(b)得到的高级光谱函数f_i(λ′_s)乘以步骤(c)中测得待测光源在短波自由波段的光谱功率，得到高级光谱功率；步骤(c)中测得的长波叠加波段的光谱功率减去对应的高级光谱功率，并与所述短波自由波段的光谱功率结合，得到校正后的待测光源全波段光谱功率分布I_c(λ_a)(λ_min＜λ_a＜λ_max)。

2.如权利要求1所述的一种高级光谱校正方法，其特征在于，所述的校准光源为一个光谱范围在短波自由波段的任意窄带光源，或所述的校准光源为多个光谱范围位于短波自由波段的窄带光源组合。

3.如权利要求1所述的一种高级光谱校正方法，其特征在于，所述的校准光源为波长连续可调的激光，或者为一个或多个波长位于短波自由波段内的激光。

4.如权利要求1所述的一种高级光谱校正方法，其特征在于，使用宽带连续光源和短通滤色片/带通滤色片相结合的方法获得校准光源。

5.如权利要求1所述的一种高级光谱校正方法，其特征在于，所述的校准光源在短波自由波段内具有无功率区域，采用插值方法得到无功率区域的高级光谱函数。

6.如权利要求1所述的一种高级光谱校正方法，其特征在于，采用定标光源对光谱仪定标时，先测量和计算出高级光谱函数，并用来校正光谱仪对定标光源的光谱响应值，得到校正的光谱响应，利用校正的光谱响应定标光谱仪的光谱灵敏度。