[发明专利]偏光片的亮点瑕疵检测方法与门槛值产生方法及其装置无效
申请号: | 201110067106.X | 申请日: | 2011-03-21 |
公开(公告)号: | CN102156137A | 公开(公告)日: | 2011-08-17 |
发明(设计)人: | 赵新民 | 申请(专利权)人: | 明基材料有限公司;明基材料股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/958 | 分类号: | G01N21/958 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215121 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 偏光 亮点 瑕疵 检测 方法 门槛 产生 及其 装置 | ||
1.一种偏光片的亮点瑕疵检测方法,于一检测装置执行,且该偏光片上具有至少一待测点,其特征在于该亮点检测方法包含以下步骤:
(A)于一个包含该待测点的检测区域中取样;
(B)计算该检测区域中的影像灰阶值;
(C)根据该影像灰阶值产生一可表示该检测区域的灰阶变化程度的评估值;及
(D)将该评估值与一门槛值相比对,以检测该待测点是否为亮点。
2.根据权利要求1所述的偏光片的亮点瑕疵检测方法,其特征在于:该步骤(C)利用以下的方程式产生该评估值:
其中,i为该检测区域中的影像灰阶值、L为一预设的最大灰阶值、pi为该影像灰阶值i发生的机率,以及E为该评估值。
3.根据权利要求1所述的偏光片的亮点瑕疵检测方法,其特征在于:该步骤(D)在比较出该评估值小于该门槛值时判定该待测点为亮点瑕疵。
4.一种检测装置,用以检测偏光片上的待测点,其特征在于该检测装置包含:
取样单元,于一个包含该待测点的检测区域取样;
灰阶值计算单元,耦接于该取样单元,用以计算该检测区域中的影像灰阶值;
评估值产生单元,耦接于该灰阶值计算单元,其根据该些灰阶值产生一可表示该检测区域的灰阶变化程度的评估值;
控制单元,耦接于该取样单元、该灰阶值计算单元及该评估值产生单元,用以控制该取样单元、该灰阶值计算单元及该评估值产生单元产生对应该待测点的检测区域的灰阶变化程度的评估值;及
比对单元,耦接于该控制单元,该比对单元将该评估值与一门槛值相比较,以检测该待测点是否为亮点。
5.根据权利要求4所述的检测装置,其特征在于:该评估值产生单元利用熵演算法配合该灰阶值计算单元计算出的该些灰阶值而产生一可表示检测区域的灰阶变化程度的评估值,该熵演算法的定义为:
其中,i为该检测区域中的影像灰阶值、L为一预设的最大灰阶值、pi为该影像灰阶值i发生的机率,以及E为该评估值。
6.根据权利要求4所述的检测装置,其特征在于:该比对单元将该评估值与预存的门槛值相比较,若该评估值高于该门槛值,则该比对单元判定该待测点为眩光。
7.根据权利要求4所述的检测装置,其特征在于:该比对单元将该评估值与预存的门槛值相比较,若该评估值等于或小于该门槛值,则该比对单元判定该待测点为亮点。
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