[发明专利]一种用于半导电胶辊平整度的检测仪及其检测方法

权利要求书

1.一种用于半导电胶辊平整度的检测仪，所述半导体胶辊包括两端具有连接头的金属芯和包裹于金属芯外表面的胶辊面，其特征在于，包括一平台(1)以及分别设于该平台上的工作部件、支架部件、光源部件、限位部件和电气控制箱(6)，其中，

所述平台(1)为一铁板；

所述工作部件包括一可转动的铁轴(21)、两个分别支承在该铁轴(21)两头的铁轴轴承(23)、容纳所述铁轴轴承(23)的固定座(22)以及连接在所述铁轴(21)的右端且驱动该铁轴(21)转动的调速马达(24)，所述铁轴(21)通过其两头的固定座(22)横向设置于所述平台(1)的中央；

所述支架部件包括两个L型固定支架(31)及两个悬臂(33)，所述固定支架(31)左右对称且可调节地设于所述铁轴(21)的前侧，所述两个悬臂(33)前端分别可调节地固定于所述两个固定支架(31)的顶部，且该悬臂(33)悬于所述铁轴(21)的正上方，所述两个悬臂(33)的后端分别开有两个相向的、用于容置所述半导电胶辊两端连接头的容置槽(34)，且所述半导电胶辊的胶辊面与所述铁轴(21)的外周面相切；

所述光源部件包括一灯管和包裹所述灯管的铁皮盒(41)，所述铁皮盒(41)固定于所述铁轴(21)的后侧，且其面对所述铁轴(21)的一侧面上横向设有一开口(42)，该开口(42)正对所述铁轴(21)与所述半导电胶辊胶辊面的相切处；

所述限位部件包括一可转动的方轴(51)、两个分别支承在该方轴(51)两头的方轴轴承(52)、两个倒L型的铁架(53)、两根铁管(54)、两个铁块(55)、两个限位轴承(56)和一扳手(57)，所述方轴轴承(52)容置于所述固定座(22)上，且该方轴(51)位于所述铁轴(21)和所述铁皮盒(41)之间，所述两个铁架(53)的下端套设于所述方轴(51)的两端，所述两根铁管(54)分别穿过所述铁架(53)上端的后半部，且位于与所述平台(1)平行的同一平面上，所述两个铁块(55)的上端分别可调节地垂直固定于所述两个铁架(53)上端的前半部，所述铁块(55)的下端固定有一限位轴承(56)，所述两个限位轴承(56)分别压于所述悬臂(33)容置槽(34)的上方，所述扳手(57)的一端固定于所述两根铁管的中心处，另一端倾斜向上地悬于所述铁轴(21)的上方；

所述电气控制箱(6)固定于所述铁皮盒(41)的右侧，所述电气控制箱(6)分别与所述调速马达(24)和所述灯管电连接。

2.如权利要求1所述的用于半导电胶辊平整度的检测仪，其特征在于，所述固定支架(31)的底部设有腰形孔(32)，该固定支架(31)通过穿过所述腰形孔(32)的螺钉可调节地固定于所述铁轴(21)的前侧。

3.如权利要求1所述的用于半导电胶辊平整度的检测仪，其特征在于，所述悬臂(33)的前端开有腰形孔(35)，所述两个悬臂(33)通过穿过该腰形孔(35)的螺钉分别可调节地固定于所述两个固定支架(31)的顶部。

4.如权利要求1所述的用于半导电胶辊平整度的检测仪，其特征在于，所述铁块(55)的上端开有腰形孔(58)，所述两个铁块(55)通过穿过该腰形孔(58)的螺钉分别可调节地垂直固定于所述两个铁架(53)上端的前半部。

5.一种用于半导电胶辊平整度的检测方法，包括以下步骤：

通过扳手(57)将铁架(53)向上抬起，将半导电胶辊两端连接头卡置于容置槽(34)内，放下铁架(53)，使限位轴承(56)压于所述半导电胶辊两端连接头上，且半导电胶辊的胶辊面与铁轴(21)的外周面相切，通过电气控制箱(6)启动调速马达(24)，调速到合适的速度，启动灯管，所述半导电胶辊由所述铁轴(21)通过摩擦力带动转动，看有无灯光漏出，没有灯光漏出为良品。