[发明专利]脉冲漏磁缺陷与应力的无损检测系统及无损检测方法有效
申请号: | 201110069252.6 | 申请日: | 2011-03-22 |
公开(公告)号: | CN102182933A | 公开(公告)日: | 2011-09-14 |
发明(设计)人: | 周德强;王平 | 申请(专利权)人: | 江南大学 |
主分类号: | F17D5/02 | 分类号: | F17D5/02 |
代理公司: | 无锡华源专利事务所 32228 | 代理人: | 聂汉钦 |
地址: | 214122 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 脉冲 缺陷 应力 无损 检测 系统 方法 | ||
1.一种脉冲漏磁缺陷与应力的无损检测系统,其特征在于:包括信号发生器(1)、功率放大器(2)、激励线圈(3)、霍尔传感器(4)、信号放大电路(5)、数据采集卡(6)以及计算机(7);其中信号发生器(1)的输出端分为两路,其中一路输出连接功率放大器(2)的输入端,功率放大器(2)的输出连接绕制在铁芯上的激励线圈(3),霍尔传感器(4)置于激励线圈(3)中间,霍尔传感器(4)与激励线圈(3)和铁芯组成探头置于被测试件上,霍尔传感器(4)的输出经信号放大电路(5)连接数据采集卡(6),信号发生器(1)的另一路输出直接连接数据采集卡(6),数据采集卡(6)的输出连接计算机(7)。
2.一种基于权利要求1所述无损检测系统的脉冲漏磁缺陷与应力的无损检测方法,其特征在于包括如下步骤:
(a)信号发生器(1)产生脉冲激励信号,经过功率放大器(2)处理后对激励线圈(3)进行激励;
(b)所述脉冲激励信号为脉宽可调的脉冲电压,该脉冲电压分两个阶段:由0到高电平瞬时变化阶段、恒定高电平阶段;
(c)在0到高电平瞬时变化阶段,激励线圈(3)中产生交变的磁场,被检测区域产生感应涡流,所述涡流随着深度的增加衰减;所述涡流产生一个反作用的磁场,通过霍尔传感器(4)检测磁场的变化,得到被测试件所受应力的变化信息;该信号经过信号放大电路(5)调理,调理后的信号通过数据采集卡(6)进入计算机(7);
(d)在恒定高电平阶段,激励线圈(3)中产生恒定磁场,被检测区域存在缺陷时,通过霍尔传感器(4)检测到被测试件中缺陷处漏出的磁场,得到缺陷信息;该信号经过信号放大电路(5)调理,调理后的信号通过数据采集卡(6)进入计算机(7);
(e)信号发生器(1)另有一路脉冲电压直接经过数据采集卡(6)进入计算机(7),该路脉冲电压为从霍尔传感器(4)进入计算机(7)的信号提供信号分段标准,即得到涡流信号与漏磁信号;
(f)计算机(7)处理分段信号,对涡流信号与漏磁信号分别进行信号特征提取;
(g)计算机(7)根据信号特征提取结果,对缺陷裂纹进行判断和定位,对试件所处的应力状态进行评估。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江南大学,未经江南大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110069252.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。