[发明专利]量子效率测量方法、量子效率测量装置和积分器

权利要求书

1.一种量子效率测量方法，其包括以下步骤：

将试样配置在具有积分空间的积分器内的规定位置；

经由设置于上述积分器的第1窗向配置在上述规定位置的上述试样照射激发光，并且经由被设置在上述积分器的与上述激发光的光轴不交叉的位置的第2窗将上述积分空间内的光谱作为第1光谱进行测量；

将激发光入射部分构成为使透过上述试样后的激发光不向上述积分空间内反射，该激发光入射部分与上述第1窗相对且与上述积分器内的上述激发光的光轴交叉；

在激发光不向上述积分空间内反射的状态下，经由上述第1窗向配置在上述规定位置的上述试样照射上述激发光，并且经由上述第2窗将上述积分空间内的光谱作为第2光谱进行测量；

基于上述第1光谱中的与上述激发光的波长范围相对应的成分和上述第2光谱中的与上述试样受到上述激发光的照射而发出的光的波长范围相对应的成分算出上述试样的量子效率。

2.根据权利要求1所述的量子效率测量方法，其中，

在上述积分器的上述激发光入射部分形成有用于供上述激发光通过的第3窗；

上述将激发光入射部分构成为使透过上述试样后的激发光不向上述积分空间内反射的步骤包括如下步骤：从利用具有与上述积分器的内表面实质上相同的反射特性的栓塞构件堵住上述第3窗的状态去除该栓塞构件。

3.根据权利要求1或2所述的量子效率测量方法，其中，

该量子效率测量方法还包括以下步骤：

将标准体配置在上述规定位置；

经由上述第1窗向被配置在上述规定位置的上述标准体照射上述激发光，并且经由上述第2窗将上述积分空间内的光谱作为第3光谱进行测量，

算出上述试样的量子效率的步骤包括如下步骤：将上述第1光谱中的与上述激发光的波长范围相对应的成分与上述第3光谱中的与上述激发光的波长范围相对应的成分之差作为被上述试样吸收的光成分算出。

4.一种量子效率测量装置，其包括：

积分器，在其内部具有积分空间；

光源，其用于经由被设置于上述积分器的第1窗而向上述积分空间内照射激发光；

测量器，其用于经由被设置在上述积分器的与上述激发光的光轴不交叉的位置的第2窗来测量上述积分空间内的光谱；

保持部，其用于将试样或标准体配置在上述积分器内的上述激发光的光轴上；

切换机构，其用于将激发光入射部分切换成向上述积分空间内反射上述激发光的状态和不向上述积分空间内反射上述激发光的状态，上述激发光入射部分与上述第1窗相对并且与上述积分器内的上述激发光的光轴交叉；

运算部，其基于第1光谱和第2光谱算出上述试样的量子效率，上述第1光谱是在上述试样被配置在上述保持部且上述激发光入射部分处于反射上述激发光的状态的情况下由上述测量器测量得到的，上述第2光谱是在上述试样被配置在上述保持部且上述激发光入射部分处于不反射上述激发光的状态的情况下由上述测量器测量得到的。

5.根据权利要求4所述的量子效率测量装置，其中，

上述切换机构包括：

第3窗，其设置于上述积分器的上述激发光入射部分，用于使上述激发光通过，

栓塞构件，其安装于上述第3窗，具有与上述积分器的内表面实质上相同的反射特性。

6.根据权利要求5所述的量子效率测量装置，其中，

上述切换机构还包括从上述积分器的外侧与上述第3窗相对应地安装于上述积分器的光吸收部。

7.根据权利要求4～6中任一项所述的量子效率测量装置，其中，

上述积分器包括：

半球部，在其内表面具有光扩散反射层；

平面镜，其被配置成封堵上述半球部的开口，

上述第1窗被设置在上述平面镜上的包括上述半球部的实质上的曲率中心的位置和包括上述半球部的顶点的位置中的任一位置。

8.根据权利要求4～6中任一项所述的量子效率测量装置，其中，

上述积分器是在内表面具有光扩散反射层的球体，

上述保持部构成为将上述试样和上述标准体配置在上述球体的中心部。

9.一种积分器，在其内部具有积分空间，其包括：

保持部，其用于将试样或标准体配置在经由第1窗而向上述积分空间内照射的激发光的光轴上；

光取出部，为了测量上述积分空间内的光谱，其用于经由被设置在与上述激发光的光轴不交叉的位置的第2窗对光进行引导；

切换机构，其用于将激发光入射部分切换成向上述积分空间内反射上述激发光的状态和不向上述积分空间内反射上述激发光的状态，上述激发光入射部分与上述第1窗相对且与上述积分器内的上述激发光的光轴交叉。