[发明专利]一种改进的具有电流阻挡层的LED芯片及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201110071173.9 申请日: 2011-03-22
公开(公告)号: CN102694095A 公开(公告)日: 2012-09-26
发明(设计)人: 樊邦扬;叶国光;梁伏波;杨小东;曹东兴 申请(专利权)人: 广东银雨芯片半导体有限公司
主分类号: H01L33/14 分类号: H01L33/14;H01L33/42;H01L33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 529700 广*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 改进 具有 电流 阻挡 led 芯片 及其 制备 方法
【说明书】:

【技术领域】

发明属于半导体技术领域,涉及LED芯片结构及其制备方法,特指一种改进的具有电流阻挡层的LED芯片及其制备方法。

【背景技术】

目前,发光二极管(LED)芯片结构有正装结构,垂直结构和倒装焊结构,其中正装结构的发光二极管芯片如图1所示,主要包括衬底1、形成在衬底上的缓冲层2(buffer layer)、形成在缓冲层上的N型半导体层3、形成在N型半导体层上的发光层4、形成在发光层上的P型半导体层5,形成P型半导体层5上的透明导电层6、以及P电极81和N电极82。由于LED芯片的电流积聚效应特别明显,即电流主要集中在电极正下方的发光层部分区域,横向扩展比较小,电流分布很不均匀,导致局部电流密度过大,热量过高,大大降低了芯片的使用效率和寿命。同时,在此区域电流密度最大,自然发光强度也最大,但此区域出射的光绝大部分会被正上方的不透明电极所遮挡,导致LED的出光效率降低。为了解决上述问题,行业内的普遍方法是在P型半导体层和P型电极之间直接镀上一层绝缘介质作电流阻挡层,请参见图2,这样虽然能够减少电极下方的电流比例,在一定程度上增加电流的扩散性,但增加的电流阻挡层势必会吸收一部分的光线,降低发光二极管的出光效率。

【发明内容】

针对现有技术中LED芯片热量高、电流扩散不均匀、出光效率低等问题,本发明的目的是提供一种具有高的热稳定性能、电流扩散性好、出光效率高并可以规模量产的LED芯片结构及其制备方法。

为了实现上述目的,本发明所提供的技术方案是:一种改进的具有电流阻挡层的LED芯片包括:N型半导体层、形成于N型半导体层上的发光层、形成于发光层上的P型半导体层、形成于P型半导体层上的透明导电层、形成于透明导电层上的P电极和形成于N型半导体层上的N电极,在P型半导体层上P型电极对应的正下方形成有表面光滑的第一沟槽,所述第一沟槽上形成有电流阻挡层。

与现有技术相比,本发明的有益效果为:由于在本发明中P型半导体层上P电极对应的正下方形成有表面光滑的第一沟槽,沟槽的表面上形成有电流阻挡层,采用这样的结构,不但电流阻挡层能够起到阻挡电流的作用,通过一定工艺形成的沟槽,由于破坏了P电极下PN结的结构,因此沟槽边缘能够防止P极金属层跨越PN极形成漏电流,对电流起到一定的阻挡作用,降低电流向P电极积聚沉度,因此能够起到双层电流阻挡的作用,使P电极注入的电流横向扩展到电极下方以外的发光区,减少了电流积聚在P电极下方时产生的热量,提高了LED芯片的热稳定性能也延长了器件的使用寿命。同时,光滑的第一沟槽表面相对于较粗化的外延片表面,能够增加出射到P电极下光的反射机率,减少光在P电极下的吸收量,能够最大限度的提升芯片的外部光萃取效率。

优选的,在N型半导体层上N电极对应的正下方形成有第二沟槽。采用这样的结构能够使N电极下方的电流扩散更均匀。

优选的,所述第一沟槽和第二沟槽的深度在100nm至1000nm之间。

优选的,所述第一沟槽和第二沟槽的深度为500nm。

优选的,所述电流阻挡层的厚度在500A至5000A之间,宽度大于所述P电极的宽度,两者的差距在3um到10um之间。

优选的,所述改进的具有电流阻挡层的LED芯片还包括衬底和缓冲层,所述缓冲层形成在所述衬底上,所述N型半导体层形成在所述缓冲层上。

本发明还提供一种改进的具有电流阻挡层的LED芯片的制备方法,包括如下步骤:

(1)在衬底的正面上依次生长缓冲层、N型半导体层、发光层、P型半导体层的叠层结构;

(2)通过刻蚀形成用于制作N电极的台面结构;

(3)分别在P型半导体层和N型半导体层上刻蚀形成第一沟槽和第二沟槽;

(4)在P型半导体层的第一沟槽上沉积绝缘材料形成电流阻挡层;

(5)在P型半导体层上形成透明导电层;

(6)在透明导电层上对应的电流阻挡层的正上方形成P电极,在N型导电层的第二沟槽正上方形成N电极。

通过本发明中制备方法生产出来的LED芯片结构,不但具有电流阻挡作用,且通过蚀刻工艺形成的沟槽,表面光滑,能起到反光的目的,因此能够提升LED芯片的出光效率并延长使用寿命。同时该制备方法在现有工艺上做简单改进即能实现,制作方便,完全能够满足大规模的量产要求。

优选的,所述第一沟槽和第二沟槽通过热酸溶液腐蚀、光学刻蚀和电感耦合等离子体刻蚀形成。通过此种工艺刻蚀形成的沟槽边缘光滑,能够增加出射到P电极下光的反射机率,减少光在P电极下的吸收量,能够最大限度的提升芯片的外部光萃取效率。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广东银雨芯片半导体有限公司,未经广东银雨芯片半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110071173.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top