[发明专利]SAS扩展器连接路由技术无效
申请号: | 201110071461.4 | 申请日: | 2011-03-24 |
公开(公告)号: | CN102567211A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | S·R·帕泰尔;P·R·卡达姆;A·S·阿普海尔 | 申请(专利权)人: | LSI公司 |
主分类号: | G06F12/02 | 分类号: | G06F12/02;G06F13/16;H04L29/12;H04L12/56 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 金晓 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | sas 扩展 连接 路由 技术 | ||
1.一种减少扩展器的查找表内条目数量的方法,所述扩展器被用于串行连接SCSI存储系统中,用于响应于对数据的开放地址帧请求而提供路由地址,所述方法包括:
在所述开放地址帧请求中提供路由信息,所述路由信息包括:
源扩展器标识;
源物理地址信息;
目的地扩展器标识;和
目的地物理地址信息;
利用所述查找表内的所述路由信息在发起者和目标之间路由数据。
2.如权利要求1所述的方法,其中所述源扩展器标识包括源扩展器的物理地址。
3.如权利要求2所述的方法,其中所述目的地扩展器标识包括目的地扩展器的物理地址。
4.如权利要求3所述的方法,其中利用所述查找表内的所述路由信息在发起者和目标之间路由数据的所述步骤包括:
在内容可寻址存储器查找表内用于在发起者和目标之间路由数据的路由信息。
5.如权利要求1所述的方法,其中在开放地址帧请求中提供路由信息的所述步骤包括:
在所述开放地址帧请求的更兼容特征字段内提供路由信息。
6.一种减少扩展器的查找表内条目数量的方法,所述扩展器被用于串行连接SCSI存储系统中,用于响应于对数据的开放地址帧请求而提供路由地址,所述方法包括:
在所述开放地址帧请求中提供路由信息,所述路由信息包括:
源扩展器地址信息;和
目的地扩展器地址信息;
利用所述查找表内的所述路由信息在发起者和目标之间路由数据。
7.如权利要求6所述的方法,其中所述源扩展器地址信息包括源扩展器的物理地址。
8.如权利要求7所述的方法,其中所述目的地扩展器信息包括目的地扩展器的物理地址。
9.如权利要求8所述的方法,其中利用所述查找表内的所述路由信息在发起者和目标之间路由数据的所述步骤包括:
内容可寻址存储器查找表内用于在发起者和目标之间路由数据的路由信息。
10.如权利要求6所述的方法,其中在开放地址帧请求中提供路由信息的所述步骤包括:
在所述开放地址帧请求的更兼容特征字段内提供路由信息。
11.一种减少扩展器的查找表内条目数量的方法,所述扩展器被用于具有给定拓扑结构的串行连接SCSI存储系统中,用于响应于对数据的开放地址帧请求而提供路由地址,所述方法包括:
为存在于所述存储系统的所述拓扑结构中的设备物理地址生成地址范围;
将所述地址范围存储在查找表内;
检查所述开放地址帧请求中的地址以确定所述开放地址帧请求的所述地址的地址范围信息;
利用所述开放地址帧请求中的所述地址的所述地址范围信息来得到用于路由到所述设备的物理层索引。
12.如权利要求11所述的方法,其中将所述地址范围存储在查找表内的所述步骤包括:
将所述地址范围存储在三重内容可寻址存储器中。
13.如权利要求12所述的方法,进一步包括:
利用所述扩展器内的处理来生成所述地址范围。
14.一种减少扩展器的查找表内条目数量的方法,所述扩展器被用于具有给定拓扑结构的串行连接SCSI存储系统中,用于响应于对数据的开放地址帧请求而提供路由地址,所述方法包括:
运行发现程序以获得用于所述存储系统的所述拓扑结构的所述路由地址;
将所述路由地址存储在附加RAM中;
用最近最多使用过的所述路由地址填充查找表;
读取所述开放地址帧请求;
将所述开放地址帧请求中包含的地址信息与所述查找表中存储的所述路由地址相比较;
在所述查找表中存储的所述路由地址与所述开放地址帧请求中包含的所述地址信息匹配时,提供用于路由所述开放地址帧请求的所述路由地址;
在所述查找表中存储的所述路由地址与所述开放地址帧请求中包含的所述地址信息不匹配时,访问所述附加RAM;
将所述开放地址帧请求中包含的所述地址信息与所述附加RAM中存储的所述路由地址相比较;
在所述附加RAM中存储的所述路由地址与所述开放地址帧请求中包含的所述地址信息匹配时,提供用于路由所述开放地址帧请求的所述路由地址。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于LSI公司,未经LSI公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110071461.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体存储器件、测试电路及其测试方法
- 下一篇:具有抗静电涂层的光学透镜