[发明专利]磁极检测系统和磁极检测方法有效

专利信息
申请号: 201110071708.2 申请日: 2011-03-21
公开(公告)号: CN102221322A 公开(公告)日: 2011-10-19
发明(设计)人: 清水哲也;花香敏 申请(专利权)人: 村田机械株式会社
主分类号: G01B7/00 分类号: G01B7/00
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 陈伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 磁极 检测 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种磁极检测系统,具有:配列有多个磁性传感器的磁性传感器阵列和使N极和S极的磁极交替地配置的磁极阵列,其特征在于,设有:

相位检测头,检测以所述磁极阵列中的一个磁极作为基准的相位;

节距特定单元,不依据过去的检测数据而仅根据现在的检测数据,对磁性传感器阵列现在检测的一个磁极是磁极阵列中的第几节距的磁极进行特定。

2.如权利要求1所述的磁极检测系统,其特征在于,设有:

与所述磁极阵列平行地配置且以磁极阵列的磁极单位进行变化的多个标记;

由与磁性传感器阵列平行地配置的多个标记检测传感器构成的标记传感器阵列,

并且,所述节距特定单元根据来自所述多个标记检测传感器的信号列,对是磁极阵列中的第几节距的磁极进行特定。

3.如权利要求2所述的磁极检测系统,其特征在于,所述多个标记,通过至少磁极阵列的磁极是否向与磁极阵列的配列方向呈直角的方向延长来构成。

4.如权利要求2所述的磁极检测系统,其特征在于,还具有偏置修正单元,其通过将为磁极阵列中的第几节距的磁极的数据变换成每个磁极的基准位置,并通过将所述相位变换成距基准位置的位移,由此输出绝对位置。

5.一种磁极检测方法,通过配列有多个磁性传感器的磁性传感器阵列,对将N极和S极的磁极交替地配置的磁极阵列中的磁极进行检测,其特征在于,

执行以下步骤:

通过相位检测头来检测以磁极阵列中的一个磁极为基准的相位的步骤;

不依据过去的检测数据而仅根据现在的检测数据,并通过节距特定单元对磁性传感器阵列现在检测的一个磁极是磁极阵列中的第几节距的磁极进行特定的步骤。

6.如权利要求5所述的磁极检测方法,其特征在于,设有:

与所述磁极阵列平行地配置且以磁极阵列的磁极单位进行变化的多个标记;由与磁性传感器阵列平行地配置的多个标记检测传感器构成的标记传感器阵列,

在所述进行特定的步骤中,根据来自所述多个标记检测传感器的信号列,对是磁极阵列中的第几节距的磁极进行特定。

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