[发明专利]X射线透射检查装置及X射线透射检查方法有效
申请号: | 201110071723.7 | 申请日: | 2011-03-15 |
公开(公告)号: | CN102213683A | 公开(公告)日: | 2011-10-12 |
发明(设计)人: | 的场吉毅 | 申请(专利权)人: | 精工电子纳米科技有限公司 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 何欣亭;王忠忠 |
地址: | 日本千叶*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 透射 检查 装置 方法 | ||
技术领域
本发明涉及能检测试料中的由特定元素组成的异物的X射线透射检查装置及X射线透射检查方法。
背景技术
近年来,作为汽车、混合动力汽车或电动汽车等的电池,一直采用比镍氢类电池能量密度高的锂离子二次电池。该锂离子二次电池是非水电解质二次电池的一种,是电解质中的锂离子负责导电且电池内不含金属锂的二次电池,在笔记本型个人计算机或便携电话机中已被广泛采用。
尽管该锂离子二次电池具有优良的电池特性,但由于在制造工序中电极上掺入有Fe(铁)等异物时会对发热性或寿命等电池特性劣化等的可靠性产生影响,所以直到如今也没能用于车载。例如,锂离子二次电池的电极(正极)一般被构成为在厚度为20μm左右的A1膜的两面形成100μm左右厚的Mn酸锂膜或Co酸锂膜,但在其中混入Fe(铁)或SUS(不锈钢)的异物的情况下,若该异物厚为数十μm以上,则会产生短路,从而可能引起电池的烧坏或性能下降。因此,对于锂离子二次电池,希望通过检查来迅速地检测并预先清除制造时混入有异物X的电池。
一般地,作为检测试料中的异物等的方法,已知有使用透射X射线像的方法。如现有技术例如专利文献1中所述的那样,提出了利用该方法通过透射X射线像来检测有无异物混入的异物检测方法。
[专利文献1]日本特开2001-91480号公报
发明内容
上述现有技术中残留有以下的课题。
也就是说,在现有的异物检测方法中,在异物存在的部位离X射线检测器近的情况与远的情况下,异物的像的清晰度不同。因此,在现有的异物检测方法中,在如图2所示异物离X射线检测器近的情况与如图3所示异物离X射线检测器远的情况下,异物的对比度上产生较大的差别,即使是相同尺寸、相同材质的异物,获得的像也不同,从而会导致过检测或误检测等不良现象的产生。
本发明是鉴于前述的课题而作出的,其目的在于提供能忠实地再现相同尺寸、相同材质的异物的像的对比度从而防止过检测及误检测的X射线透射检查装置及X射线透射检查方法。
本发明为了解决上述课题而采用了以下的结构。即,本发明的X射线透射检查装置,其特征在于,包括:X射线管球(X射线管),向检查对象试料照射X射线;X射线检测器,接受上述X射线透射上述检查对象试料时的透射X射线并检测其强度;以及距离传感器,作成表示检测到的上述透射X射线的强度分布的透射像并测定检查对象试料与检查装置之间的距离;,在上述X射线检测器上配置有调节上述X射线检测器与检查对象试料之间的距离的机构。
另外,本发明的X射线透射检查方法的特征在于,包括:向检查对象试料照射X射线的步骤;测定检查对象试料与检查装置之间的距离的步骤;接受距离测定结果并调节X射线检测器与检查对象试料之间的距离的步骤;接受上述X射线透射上述试料时的透射X射线并检测其强度的步骤;以及作成表示检测到的上述透射X射线的强度分布的透射像的步骤。
在这些X射线透射检查装置及X射线透射检查方法中,由于是在保持检查对象试料与X射线检测器之间的距离恒定的同时获得X射线透射像,所以能够不受检查对象试料的位置的影响地稳定地获得检查对象内的异物的对比度。
本发明产生以下的效果。
也就是说,根据本发明涉及的X射线透射检查装置及X射线透射检查方法,即使检查对象试料与检查装置的距离发生变化,也能基于距离测定结果调整X射线检测器的位置,从而保持检查对象试料与X射线检测器的距离固定,通过检查对象试料中的异物稳定地拍摄透射X射线像成为可能,提高异物尺寸的再现性并防止异物检测中的过检测及误检测成为可能。
因此,使用此X射线透射检查装置及X射线透射检查方法能够高精度且迅速地进行锂离子二次电池等中的特定元素的异物检测。
附图说明
图1是示出本发明涉及的X射线透射检查装置及X射线透射检查方法的一实施方式的概略性整体结构图。
图2是现有的X射线透射检查装置及X射线透射检查方法中照射X射线时的对比度的概略图。
图3是现有的X射线透射检查装置及X射线透射检查方法中照射X射线时的其他的对比度的概略图。
附图标记说明
11...X射线管球;12...X射线产生点;13...X射线检测器;14...X射线检测器位置调整机构;15...距离测定传感器;16...X射线检测器位置反馈控制部;17...控制部;18...显示部;S1...检查对象试料;S2...异物。
具体实施方式
以下参考图1至图3来说明本发明涉及的X射线透射检查装置及X射线透射检查方法的一实施方式。
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