[发明专利]继电器寿命预测装置

说明书

技术领域

本发明涉及预测电磁继电器的寿命的寿命预测装置。

背景技术

具有继电器线圈和通过对该继电器线圈的通电进行开闭的继电器接点的有接点继电器为一般公知。该继电器中的继电器接点通过线圈产生的磁力机械地进行闭合和断开切换。在包括这样的继电器的机械式的开关中，在接点进行闭合和断开切换之际，在接点的电极间产生放电，由该放电产生的热导致电极表面熔化而使得表面形成凹凸形状。形成有凹凸的电极，由于由该凹凸容易造成放电，因此在重复多次继电器接点的闭合和断开的过程中，凹凸缓缓生长，最终由于热而使得表面熔融了的电极相互熔敷，这样接点始终固定在闭合状态。为了在这样的熔敷实际发生之前判断“可以判断为现在所用的继电器未发生接点熔敷，或貌似要发生熔敷最好进行替换”，先进行寿命预测。例如，通过比较生产商提供的耐久性接点开闭次数和实际的接点开闭次数，和根据继电器中流过的电流计算，来进行电磁继电器的接点寿命预测(例如，参考专利文献1)。

现有技术文献

专利文献

【专利文献1】特开平05-266290号公报

发明内容

发明所要解决的问题

然而，以上述方法，难以正确地预测电磁继电器的寿命。例如，在对生产商提供的耐久性的接点开闭次数和实际装置接点开闭次数进行比较的方法中，有由于各测定时负载的条件(包括电磁继电器的电路中电阻、电压、电流等)各不相同而导致的各个开闭次数产生较大的差异的情况发生，因此实机的实际的极限次数与生产商提供的值之差增大，随着该差的增大，预测精度下降。又，如专利文献1所记载的那样，在将代表电流的负载条件代入规定的寿命预测计算式计算寿命的方法中，由于例如电磁继电器内的电阻值随着机构、气氛、噪音等环境条件的变化而变动，会有预先确定的负载条件与实际运用上产生的负载不一致的情况，在这样的情况下预测精度会下降。

因此，本发明目的在于提供能够正确预测电磁继电器的寿命的继电器寿命预测装置。解决问题的手段

为了解决上述问题，本发明提供一种继电器寿命预测装置，包括：具有继电器线圈、和通过对该继电器线圈的通电进行开闭的继电器接点的继电器；通过对所述继电器线圈的通电的控制，以控制继电器的开闭的控制部；检测继电器的实际的开闭的检测部；测定部，其对从由控制部对继电器线圈的通电时刻或由控制部对继电器线圈断电的时刻开始到由检测部检测到所述继电器的开闭的时刻为止的时间进行测定；以及基于该测定部的测定结果诊断继电器的寿命的诊断部。

在上述继电器的寿命预测装置中，诊断部也可在测定部的测定结果中，基于开闭次数的变化量与测定结果的变化量之比诊断继电器的寿命。

又，在上述继电器的寿命预测装置中，诊断部也可在测定部的测定结果中，通过比较测定结果的值与规定阈值来诊断继电器的寿命。

发明效果

根据本发明，基于从开始对继电器线圈通电的时刻或从停止对继电器线圈通电的时刻开始到实际检测到继电器的开闭的时刻为止的时间，对继电器的寿命进行诊断，而不会产生由于负载条件或环境条件的影响而导致的预测精度的显著下降，以正确地预测电磁继电器的寿命。

附图说明

图1是示意性地显示本发明涉及的寿命预测装置的结构的图。

图2是显示用于电磁继电器的检查的电路的一例的图。

图3是图2的电路中的实验结果。

图4是图2的电路中的实验结果。

图5是表示动作时间、复位时间与开闭次数之间的关系的图表。

具体实施方式

下面，参考附图对本发明的实施方式进行详细说明。

<寿命预测装置1的结构>

如图1所示，本实施方式的寿命预测装置1具有：控制继电器10的开闭的控制部2；检测继电器10的接点的开闭的检测部3；测定继电器10的开闭所需要的时间的测定部4；基于该测定部4的测定结果诊断继电器10的寿命的诊断部5。

控制部2由控制继电器10的开闭的电路构成。该控制部2在对继电器10输出指示开闭的控制信号时，即将这一事件通知测定部4。

检测部3由检测继电器10的实际开闭的检测装置构成。该检测部3在检测继电器10的开闭时，即将这一事件通知测定部4。