[发明专利]主板测试系统及其测试治具无效

专利信息
申请号: 201110071936.X 申请日: 2011-03-24
公开(公告)号: CN102693175A 公开(公告)日: 2012-09-26
发明(设计)人: 张万宏 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G06F11/267 分类号: G06F11/267
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 主板 测试 系统 及其
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种主板测试系统及其测试治具。

背景技术

随着服务器的主板尺寸越来越小,为了节省空间,很多主板在设计上放弃了使用传统的PCIE插槽,而使用更为迷你的连接器,但是在对主板的测试过程中需要用到带有PCIE连接器的显卡、网卡等来插接到主板内,而没有PCIE插槽的主板在测试方面给测试机开发人员造成了很大的困扰。

发明内容

鉴于以上内容,有必要提供一种主板测试系统及其测试治具,以方便快捷地对所述主板进行测试。

一种测试治具,用于连接至一主板的PCIE信号端口来对所述主板进行测试,所述测试治具包括一板体、一PCIE连接端口、一PCIE插槽及一电源模组,所述PCIE连接端口用于连接至所述主板的PCIE信号端口,所述PCIE插槽连接至所述PCIE连接端口以与所述主板上的PCIE信号端口通信,所述电源模组连接至所述PCIE插槽以给所述PCIE插槽提供电压,所述PCIE插槽用于在对所述主板测试时插接一外接卡。

一种主板测试系统,包括一主板及一测试治具,所述主板包括一PCIE信号端口,所述测试治具包括一板体、一PCIE连接端口、一PCIE插槽及一电源模组,所述PCIE连接端口连接至所述主板的PCIE信号端口,所述PCIE插槽连接至所述PCIE连接端口以与所述主板上的PCIE信号端口通信,所述电源模组连接至所述PCIE插槽以给所述PCIE插槽提供电压,所述PCIE插槽用于在对所述主板测试时插接一外接卡。

本发明主板测试系统通过所述测试治具的PCIE连接端口连接至所述主板的PCIE信号端口,从而将所述主板的PCIE信号端口连接至所述PCIE插槽,当对所述主板进行测试时将所述外界卡插入所述PCIE插槽内即可,方便快捷。

附图说明

下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述:

图1是本发明主板测试系统的较佳实施方式的示意图。

主要元件符号说明

板体10PCIE连接端口20PCIE插槽30电源模组40稳压及电流保护电路50软排线60测试治具100主板200PCIE信号端口220主板测试系统300

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。

具体实施方式

请参考图1,本发明主板测试系统300的较佳实施方式包括一主板200及一测试治具100。所述主板200包括一PCIE信号端口220。所述测试治具100连接至所述PCIE信号端口220来对所述主板200进行测试。

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