[发明专利]光学触控系统及光学触控方法

权利要求书

1.一种光学触控系统，包含：

一触控区域；

一第一光学触控模块，设置在该触控区域的一侧，提供一第一入射光至该触控区域；以及

一第二光学触控模块，设置在该触控区域的另一侧，提供一第二入射光至该触控区域；

其中该第一光学触控模块与该第二光学触控模块交替提供该第一与该第二入射光，当一触控点进入该触控区域时，该第一与该第二入射光照射于该触控点而产生多个反射光，该第一光学触控模块与该第二光学触控模块检测该多个反射光并输出多个检测值；以及

一微处理单元，接收所述光学触控模块所输出的该多个检测值，并据以计算出该触控点在该触控区域中的一位置。

2.如权利要求1所述的光学触控系统，其特征在于，该第一光学触控模块，包含：

一第一检测器；

一第一集光单元，将该第一入射光与该第二入射光照射于该触控点后产生该多个反射光中的漫反射光收集至该第一检测器；

一第二集光单元，将该第一入射光照射于该触控点后产生该多个反射光中的倒溯反射光收集至该第一检测器。

3.如权利要求2所述的光学触控系统，其特征在于，该光学触控系统还包含：

一第一扫瞄单元，具有一光源单元与一可转动的面镜，其中该光源单元用以提供该第一入射光至该触控区域。

4.如权利要求1所述的光学触控系统，其特征在于，该第二光学触控模块，包含：

一第二检测器；

一第三集光单元，将该第一入射光与该第二入射光照射于该触控点后产生该多个反射光中的漫反射光收集至该第二检测器；

一第四集光单元，将该第二入射光照射于该触控点后产生该多个反射光中的倒溯反射光收集至该第二检测器。

5.如权利要求4所述的光学触控系统，其特征在于，该光学触控系统还包含：

一第二扫瞄单元，具有一光源单元与一可转动的面镜，其中该光源单元用以提供该第二入射光至该触控区域。

6.一种光学触控方法，其特征在于，该光学触控方法应用一第一光学触控模块与一第二光学触控模块进行光学触控，该方法包含步骤：

该第一与该第二光学触控模块交替提供一第一入射光与一第二入射光；

检测该第一与该第二入射光照射于一触控点时产生的多个反射光的光强度以获得多个检测值；以及

利用所述多个检测值以计算该触控点于一触控区域的位置。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，当该第一与该第二入射光分别经由该第一光学触控模块的一第一面镜与该第二光学触控模块的一第二面镜直接反射而成为具有最大光强度的多个基准光，该第一与该第二光学触控模块检测并接收该多个基准光以作为多个基准值。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，该第一入射光与该第二入射光分别随该第一触控模块的该第一面镜与该第二触控模块的该第二面镜的转动，而以不同方向入射至该触控区域。

9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，该第一入射光与该第二入射光照射于该触控点后所产生的该多个反射光具有不同光强度，经由该第一光学触控模块与该第二光学触控模块检测并接收为该多个检测值。

10.如权利要求9所述的方法，其特征在于，利用所述多个检测值与该多个基准值，计算出该触控点在该触控区域中的位置。

11.一种光学触控系统，包含：

一触控区域；

一第一光学触控模块，包含：

一第一扫描单元，沿一第一方向提供一第一入射光；以及

一外加检测器，检测该第一入射光沿一第二方向的反射光，其中该第二方向与该第一方向互不平行；

以及

一微处理单元，控制该光学触控模块，且接收该外加检测器输出的一检测值并据以计算出一触控点位于该触控区域中的一位置。

12.如权利要求11所述的光学触控系统，其特征在于，该光学触控系统还包含：

一内部检测器；以及

一第一集光单元，接收该第一入射光沿一第三方向的反射光以将其收集至该第一检测器，其中该第三方向与该第一方向互不平行。

13.如权利要求12所述的光学触控系统，其特征在于，该光学触控系统还包含：

一第二集光单元，将该第一入射光的倒溯反射光收集至该内部检测器。