[发明专利]具有外部测试电压的电路

说明书

技术领域

本发明涉及一种具有外部测试电压的电路，尤指一种仅需一用以输入外部测试电压的衬垫(pad)，以及输出的测试电压不会随着外部测试电压一起成几何级数改变的具有外部测试电压的电路。

背景技术

请参照图1，图1为现有技术说明具有外部测试电压的电路100的示意图。电路100包含一放大器102、一P型金属氧化物半导体晶体管104、一参考开关106、一测试开关108、一电阻RU、一电阻RD及多个串联电阻R1-Rn。当电路100正常操作时，参考开关106开启以及测试开关108关闭。此时，一参考电压VREF通过参考开关106输入至放大器102的负输入端，且节点A的电压亦为参考电压VREF。因此，参考输出端VINTREFN1、VINTREFN2、VINTREFN3...、VINTREFNn输出和参考电压VREF成比例的电压。当电路100需要输入外部测试电压VT测试时，参考开关106关闭以及测试开关108开启。此时，一外部测试电压VT通过测试开关108输入至放大器102的负输入端，且节点A的电压亦为外部测试电压VT。因此，参考输出端VINTREFN1、VINTREFN2、VINTREFN3...、VINTREFNn输出和外部测试电压VT成比例的电压。

但在外部测试电压的电路100中，参考输出端VINTREFN1、VINTREFN2、VINTREFN3...、VINTREFNn输出的电压会随着参考电压VREF一起成几何级数改变。因此，某些参考输出端输出的电压可能太高，毁损所测试的电路。

请参照图2，图2为另一现有技术说明具有外部测试电压的电路200的示意图。电路200包含一放大器202、一P型金属氧化物半导体晶体管204、多个参考开关2061-206n、多个测试开关2081-208n、一电阻RU、一电阻RD及多个串联电阻R1-Rn。如图2所示，参考开关2061耦接于参考输出端VINTREFN1和参考电压输出端VINTREF1之间，测试开关2081耦接于参考电压输出端VINTREF1和测试输出端VINTREFT1之间；参考开关2062耦接于参考输出端VINTREFN2和参考电压输出端VINTREF2之间，测试开关2082耦接于参考电压输出端VINTREF2和测试输出端VINTREFT2之间；余下依此类推，在此不再赘述。

因此，当参考电压输出端VINTREF1、VINTREF2、VINTREF3...、VINTREFn中的每一参考电压输出端需要输出外部测试电压时，可将对应的参考开关关闭以及对应的测试开关开启。另外，当参考电压输出端VINTREF1、VINTREF2、VINTREF3...、VINTREFn中的每一参考电压输出端需要输出参考输出端的电压时，可将对应的参考开关开启以及对应的测试开关关闭。例如，参考电压输出端VINTREF1需要输出外部测试电压V1时，相对应的参考开关2061关闭以及相对应的测试开关2081开启。因此，外部测试电压V1经测试开关2081由参考电压输出端VINTREF1输出。其余参考电压输出端VINTREF2-VINTREFn的操作原理皆和参考电压输出端VINTREF1相同，在此不再赘述。

虽然电路200改善了电路100中参考输出端VINTREFN1、VINTREFN2、VINTREFN3...、VINTREFNn输出的电压会随着参考电压VREF一起变动的缺点。但是在做芯片测试时，却需要许多用以输入外部测试电压的衬垫(pad)，使得电路200不大可能实现在现今小面积的芯片上。

发明内容