[发明专利]眼镜片佩戴状态参数测定装置和测定方法无效
申请号: | 201110078658.0 | 申请日: | 2011-03-30 |
公开(公告)号: | CN102207636A | 公开(公告)日: | 2011-10-05 |
发明(设计)人: | 和田修 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | G02C13/00 | 分类号: | G02C13/00;G01M11/02 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 眼镜片 佩戴 状态 参数 测定 装置 方法 | ||
1.一种眼镜片佩戴状态参数测定装置,其测定制作眼镜所需的佩戴状态参数,其特征在于,该眼镜片佩戴状态参数测定装置具有:
具有映出佩戴者的佩戴状态的镜面的至少一个镜子;
摄像用照相机,其同时拍摄所述佩戴者和映出所述佩戴者的所述镜面;以及
计算装置,其根据由所述摄像用照相机拍摄的摄像图像数据,计算所述佩戴状态参数,
所述镜子以如下方式配置:以所述摄像用照相机的光轴为法线的平面与所述镜面所成角度大于等于30度且小于等于60度。
2.根据权利要求1所述的眼镜片佩戴状态参数测定装置,其特征在于,
以所述摄像用照相机的光轴为法线的平面与所述镜面所成角度为45度。
3.根据权利要求1或2所述的眼镜片佩戴状态参数测定装置,其特征在于,
所述镜子是映出从侧方观察所述佩戴者的头部时的佩戴状态的侧方镜。
4.根据权利要求3所述的眼镜片佩戴状态参数测定装置,其特征在于,
在所述侧方镜的镜面上形成有作为测定所述佩戴状态参数的基准的刻度。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的眼镜片佩戴状态参数测定装置,其特征在于,
所述镜子是映出从上方观察所述佩戴者的头部时的佩戴状态的上方镜。
6.一种眼镜片佩戴状态参数测定方法,其使用权利要求1至5中任一项所述的眼镜片佩戴状态参数测定装置,测定制作眼镜所需的佩戴状态参数,其特征在于,
该眼镜片佩戴状态参数测定方法包括:
配置步骤,以如下方式将所述摄像用照相机配置在佩戴着眼镜架的佩戴者的前方:移动所述佩戴者和所述摄像用照相机中的至少任意一方的位置,使得所述摄像用照相机的光轴与所述佩戴者的脸部朝向平行,并且以如下方式配置所述镜子:将从与所述佩戴者的前方不同的方向观察到的所述佩戴着的佩戴状态映出于所述镜面上,能够由所述摄像用照相机进行拍摄;
摄影步骤,使用所述摄像用照相机同时拍摄从所述佩戴者的前方观察到的佩戴状态和映出于所述镜子的镜面上的从与所述佩戴者的前方不同的方向观察到的所述佩戴者的佩戴状态;以及
计算步骤,根据通过所述摄影而获得的摄像图像,计算所述佩戴状态参数。
7.根据权利要求6所述的眼镜片佩戴状态参数测定方法,其特征在于,
在所述配置步骤中,将所述摄像用照相机配置于所述佩戴者的视轴外。
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