[发明专利]可用于X射线、γ射线辐射实验的多功能探针台测试系统有效
申请号: | 201110079362.0 | 申请日: | 2011-03-31 |
公开(公告)号: | CN102226832A | 公开(公告)日: | 2011-10-26 |
发明(设计)人: | 归靖慷;赵策洲;胡新立 | 申请(专利权)人: | 西交利物浦大学 |
主分类号: | G01R31/303 | 分类号: | G01R31/303;G01R1/02 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 范晴 |
地址: | 215123 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 射线 辐射 实验 多功能 探针 测试 系统 | ||
1.一种可用于X射线、γ射线辐射实验的多功能探针台测试系统,包括探针测试平台,所述探针测试平台包括待测芯片(1)、内置放射源(3)的铅容器(4)和观测待测芯片变化的显微镜(2),其特征在于所述系统还包括辐射防护暗箱(5),所述探针测试平台设置在辐射防护暗箱(5)内,所述铅容器上端开口,待测芯片(1)放置在铅容器开口上,所述待测芯片(1)上端设置探针座(8);所述铅容器下端设置调节待测芯片(1)的空间位置的空间位置调节装置。
2.根据权利要求1所述的可用于X射线、γ射线辐射实验的多功能探针台测试系统,其特征在于所述显微镜通过电子目镜(6)连接到计算机;所述显微镜观测到芯片图像后通过电子目镜(6)显示输出到计算机。
3.根据权利要求1所述的可用于X射线、γ射线辐射实验的多功能探针台测试系统,其特征在于所述空间位置调节装置包括三个操纵杆(7),所述操纵杆贯穿辐射防护暗箱(5)调节芯片的空间位置和辐射θ角;所述辐射防护暗箱(5)设置与操纵杆(7)操作行程匹配的滑槽。
4.根据权利要求1所述的可用于X射线、γ射线辐射实验的多功能探针台测试系统,其特征在于所述铅容器(4)和探针座(8)均与I-V曲线测试仪和C-V曲线测试仪连接输出给计算机进行数据处理。
5.根据权利要求1所述的可用于X射线、γ射线辐射实验的多功能探针台测试系统,其特征在于所述铅容器包括上盖(41)、两端开口的罩筒(42)和设置在罩筒下端支撑放射源的支撑座(43),所述放射源设置在罩筒(42)内,所述支撑座与罩筒孔轴配合隔离罩筒下端开口;所述上盖设置在罩筒上端隔离罩筒上端开口。
6.根据权利要求1所述的可用于X射线、γ射线辐射实验的多功能探针台测试系统,其特征在于所述探针测试平台还包括钢支架(9),所述钢支架(9)上端设置探针座(8)和空间位置调节装置;所述探针座(8)设置在空间位置调节装置上端。
7.根据权利要求1所述的可用于X射线、γ射线辐射实验的多功能探针台测试系统,其特征在于辐射防护暗箱(5)为设置有辐射防护涂层的箱体,箱体内设置探针测试平台。
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