[发明专利]基于磁耦合和光纤对阵列的液位测量方法无效
申请号: | 201110079746.2 | 申请日: | 2011-03-31 |
公开(公告)号: | CN102221392A | 公开(公告)日: | 2011-10-19 |
发明(设计)人: | 何伟;杨明红;王成刚 | 申请(专利权)人: | 武汉理工大学 |
主分类号: | G01F23/64 | 分类号: | G01F23/64 |
代理公司: | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人: | 王守仁 |
地址: | 430071 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 耦合 光纤 阵列 测量方法 | ||
1. 一种液位测量方法,其特征是一种基于磁耦合和光纤对阵列的液位测量方法,该方法是在被测液体中固定一立柱(1),立柱(1)中布置有光纤对(2),光纤对(2)是由端面严格对准的两根光纤组成,光纤对(2)的两端从立柱(1)上方引出分别接光源(7)和光探测器(8),所有光纤对(2)沿立柱高度方向排列成光纤对(2)线性阵列,光纤对(2)两根光纤的对准端面之间有保证能够通光的窄缝,所有光纤对(2)的窄缝连通形成窄缝导槽(3),窄缝导槽(3)中有磁性挡光板(4),磁性挡光板(4)能够全部或部分遮挡一个或数个光纤对(2)的通光量,随液面浮动的的浮子(5)中有永磁铁(6),永磁铁(6)通过磁耦合驱动磁性挡光板(4)沿窄缝导槽(3)移动,从而调制光纤对(2)的通光量,液面高度不同,不同光纤对(2)的通光量被调制,通过检测各光纤对(2)的通光情况即可知道液面位置。
2. 根据权利要求1所述的液位测量方法,其特征是光纤对(2)阵列和磁性挡光板(4)密封在立柱(1)的内部。
3. 根据权利要求1和2所述的液位测量方法,其特征是所述立柱(1)由聚四氟乙烯材料制成。
4. 根据权利要求1和2所述的液位测量方法,其特征是所述磁性挡光板(4)由磁性材料制成。
5. 根据权利要求1所述的液位测量方法,其特征是所述永磁铁(6)密封在浮子(5)的内部。
6. 根据权利要求1和5所述的液位测量方法,其特征是所述浮子(5)由聚四氟乙烯材料制成。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉理工大学,未经武汉理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110079746.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。