[发明专利]一种硬件压力测试方法及测试装置

权利要求书

1.一种硬件压力测试方法，其特征在于，包括：

启动硬件压力测试功能；

在操作系统中运行软件测试模型使所测硬件的温度升高；

在所述运行测试模型的过程中监测所测硬件的温度，通过所测硬件的温度变化测试硬件的散热性能。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所测硬件的温度变化测试硬件的散热性能，包括：

若所测硬件的温度变化在预设范围之内，则该硬件的散热性能良好；

若所测硬件的温度变化超过所述预设范围，或者出现死机或重启，则该硬件的散热性能较差。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：

所测硬件包括CPU、显卡、硬盘和主板；

所测硬件不同，运行的测试模型也不同。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：

当所测硬件为CPU或显卡时，同时运行两个不同的测试模型。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述两个不同的测试模型中，第一测试模型的运行包括：

获取用于测试的图像；

预设图像选取框；

在所述图像中移动图像选取框来选取部分图像；

对所述部分图像进行图像凹凸效果的模拟运算。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述两个不同的测试模型中，第二测试模型的运行包括：获取用于测试的图像；

将模拟光源投影到所述图像上；

通过移动所述模拟光源扫描所述图像，同时旋转所述图像。

7.根据权利要求4至6任一所述的方法，其特征在于：

当所测硬件包括显卡时，弹出两个测试窗口分别运行所述两个不同的测试模型。

8.根据权利要求4至6任一所述的方法，其特征在于，当所测硬件包括CPU时，还包括：

在所述运行测试模型的过程中监测CPU风扇的转速，并通过CPU风扇的转速变化测试CPU的散热性能。

9.根据权利要求3所述的方法，其特征在于：

当所测硬件为CPU或显卡时，先运行一个测试模型，如果所测硬件的温度变化满足增加测试模型的条件，则逐个增加测试模型；

其中，增加的测试模型为相同或不同模型。

10.一种硬件压力测试装置，其特征在于，包括：

测试启动模块，用于启动硬件压力测试功能；

模型运行模块，用于在操作系统运行软件测试模型使所测硬件的温度升高；

温度监测模块，用于在所述运行测试模型的过程中监测所测硬件的温度；

压力测试模块，用于通过所测硬件的温度变化测试硬件的散热性能。

11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于：

若所测硬件的温度变化在预设范围之内，则该硬件的散热性能良好；

若所测硬件的温度变化超过所述预设范围，或者出现死机或重启，则该硬件的散热性能较差。

12.根据权利要求10所述的装置，其特征在于：

所测硬件包括CPU、显卡、硬盘和主板；

所测硬件不同，运行的测试模型也不同。

13.根据权利要求10所述的装置，其特征在于：

当所测硬件为CPU或显卡时，所述模型运行模块同时运行两个不同的测试模型。

14.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，所述模型运行模块包括：

第一测试模型运行模块，用于获取用于测试的图像；预设图像选取框；在所述图像中移动图像选取框来选取部分图像；对所述部分图像进行图像凹凸效果的模拟运算；

第二测试模型运行模块，用于获取用于测试的图像；将模拟光源投影到所述图像上；通过移动所述模拟光源扫描所述图像，同时旋转所述图像。

15.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，当所测硬件包括显卡时，所述模型运行模块包括：

第一测试窗口，用于在启动硬件压力测试功能后弹出，运行其中一个测试模型；

第二测试窗口，用于在启动硬件压力测试功能后弹出，运行另一个测试模型。