[发明专利]主板测试流程自动调整系统及方法

权利要求书

1.一种主板测试流程自动调整系统，其特征在于，该系统包括：

识别模块，用于识别主板所要求测试的待测单项；

读取模块，用于从数据库中读取所要求测试的待测单项的平均测试时间和测试通过率；

策略模块，用于将测试通过率低于预设的通过率门槛值的待测单项分入第一组，将测试通过率不低于所述通过率门槛值的待测单项分入第二组，并将第一组中的各待测单项按照平均测试时间由短到长的顺序排列，在第二组中，随机排列各待测单项，将第一组置前而第二组置后，组合该第一组和第二组以得到一个新的测试流程；

测试模块，将所有待测单项依新的测试流程利用测试工具进行测试，取得测试结果；

保存模块，将每个待测单项的测试结果，测试用时间和测试通过情况存入数据库中。

2.如权利要求1所述的主板测试流程自动调整系统，其特征在于，所述通过率门槛值随着各待测单项在工厂调试时的通过率变化，通过率高，则对应的通过率门槛值就大，通过率低，则对应的通过率门槛值就小。

3.如权利要求1所述的主板测试流程自动调整系统，其特征在于，所述待测单项包含CPU、内存、硬盘、光驱、南桥芯片组、北桥芯片组、PCI总线。

4.如权利要求1所述的主板测试流程自动调整系统，其特征在于，该系统还包括一个预测试模块，用于依据一个默认的测试流程多次测试每个待测单项，并将每次每个待测单项本次测试时的测试数据，包括测试用时间、测试通过情况存入数据库中。

5.一种主板测试流程自动调整方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

识别主板所要求测试的待测单项；

根据所识别的待测单项，从数据库中读取对应待测单项的平均测试时间和测试通过率；

将测试通过率低于预设的通过率门槛值的待测单项分入第一组，将测试通过率不低于所述通过率门槛值的待测单项分入第二组；

将第一组中的各待测单项按照平均测试时间由短到长的顺序排列，在第二组，随机排列各待测单项；

将第一组置前而第二组置后，组合该第一组和第二组以得到一个新的测试流程；

将所有待测单项按新的测试流程依次进行测试；

将每个待测单项的测试用时间和测试通过情况存入数据库中。

6.如权利要求5所述的主板测试流程自动调整方法，其特征在于，所述通过率门槛值随着各待测单项在工厂调试时的通过率变化，通过率高，则对应的通过率门槛值就大，通过率低，则对应的通过率门槛值就小。

7.如权利要求5所述的主板测试流程自动调整方法，其特征在于，所述待测单项包含CPU、内存、硬盘、光驱、南桥芯片组、北桥芯片组、PCI总线。

8.如权利要求5所述的主板测试流程自动调整方法，其特征在于，该方法还包括预测试步骤：

依据一个默认的测试流程多次测试每个待测单项；

将每次每个待测单项本次测试时的测试数据，包括测试用时间、测试通过情况存入数据库中。