[发明专利]扫描光学设备

权利要求书

1.一种扫描光学设备，包括：

光源；

第一光学元件，所述第一光学元件被配置为将从所述光源发射的光转换成光束；

第二光学元件，所述第二光学元件被配置为将已经通过所述第一光学元件的光束转换成在主扫描方向上延伸的线性图像；

多面镜，所述多面镜被配置为在主扫描方向上偏转已经通过所述第二光学元件的光束；

第三光学元件，所述第三光学元件被配置为将已被所述多面镜偏转的光束转换成将在扫描表面上聚焦的斑点状图像，所述第三光学元件是具有一对相对的入射侧和出射侧透镜表面的单透镜，所述入射侧和出射侧透镜表面分别具有第一和第二光轴，所述一对相对的透镜表面中的每一个在主扫描方向上是非球面形状的，并且具有从相应于其光轴的位置向主扫描方向外侧连续地并且对称地改变的副扫描方向曲率，所述一对透镜表面中的每一个相对于包含其光轴的副扫描平面具有在主扫描方向上对称的形状；和

同步检测光束路径，所述同步检测光束路径被如此配置，使得光束通过所述同步检测光束路径，从所述多面镜行进到跨过所述一对透镜表面的光轴与所述光源相对的位置，从而被导向传感元件，所述传感元件产生用于在扫描开始位置的同步的信号，

其中在所述多面镜的旋转中心和在所述多面镜上入射的光束的中心之间的距离h满足以下条件：

R(sin((α-θ_bd)/2)-cos((α-θ_bd)/2)×tan(π/N))+(b_bd/2)×cos((α-θ_bd)/2)＜h和

h＜R(sin((α-θ_eos)/2)+cos((α-θ_eos)/2)×tan(π/N))-(b_eos/2)×cos((α-θ_eos)/2)这里R示意所述多面镜的内切圆的半径，N示意所述多面镜的定向反射面的数目，α示意由在所述多面镜上入射的光束与沿着在从所述多面镜反射离开之后将以直角在所述扫描表面上入射的光束的行进方向延伸的基准线形成的角度[rad]，θ_bd示意由沿着所述同步检测光束路径从所述多面镜行进的光束与所述基准线形成的角度[rad]，θ_eos示意由在扫描结束位置处从所述多面镜反射离开的光束与所述基准线形成的角度[rad]，并且b_eos和b_bd分别地示意在所述扫描结束位置处和在其中从所述多面镜反射离开的光束沿着所述同步检测光束路径行进的位置处，在所述多面镜的所述定向反射面中的每一个上光束在主扫描方向上的宽度；并且

其中以下条件得以满足：

-0.6＜β2≤-0.1

这里β2示意在所述第三光学元件的所述第一光轴和所述第二光轴之间在主扫描平面中形成的角度[deg]，并且

其中以下条件中的至少一个得以满足：

-0.5＜β1＜0，和

-0.1＜D2＜0.2

这里β1示意在所述第一光轴和所述基准线之间在主扫描平面中形成的角度[deg]，并且D2示意在主扫描平面中、在所述第二光轴和所述出射侧透镜表面之间的交叉点从所述第一光轴的移位量[mm]。

2.根据权利要求1的扫描光学设备，其中以下条件两者均得以满足：

-0.5＜β1＜0，和

-0.1＜D2＜0.2。

3.根据权利要求1的扫描光学设备，其中以下条件得以满足：

-0.7＜D1＜0

这里D1示意在主扫描平面中、在所述第一光轴和所述入射侧透镜表面之间的交叉点从所述基准线的移位量[mm]。

4.根据权利要求1的扫描光学设备，其中以下条件得以满足：

|θ_sos|＞|θ_eos|

这里θ_sos示意由在扫描开始位置处从所述多面镜反射离开的光束与所述基准线形成的角度[rad]。

5.根据权利要求1的扫描光学设备，其中以下条件得以满足：

0＜R1并且0＜R2

这里R1和R2分别地示意所述入射侧和出射侧透镜表面的在主扫描平面中的近轴曲率半径。