[发明专利]磁读取头

说明书

背景技术

磁数据存储装置通常包括检测及更改磁存储介质的磁性属性以存储数据的磁记录头。例如，记录头可以包括写入头，该写入头通过将磁存储介质的离散畴磁定向到通常两种磁性方向之一以表示值“0”或“1”来“写入”数据。通常地，相应磁定向的畴排列在分割磁存储介质的数据道上。记录头还可以包括通过检测从磁存储介质的相应离散畴发出的变化磁场来“读取”数据的读取头。

为了提高磁数据存储装置的存储容量，磁存储介质的相应数据道的宽度，即道间距缩小，从而提高了磁存储介质的面密度。然而，随着道间距的缩小，对应于写入到存储数据的每个道的数据的各个比特的磁畴之间的过渡边界处的弯曲度，即过渡弯曲增大。在某些情况下，由于写入到数据道的比特存在过渡弯曲度，读取头进行数据重放过程的分辨率由此降低。

发明内容

本公开涉及一种系统，包括：包括磁存储介质的数据存储部件，该磁存储介质具有排列在至少一条数据道上的多个磁比特畴，其中相应磁比特畴之间的过渡边界定义过渡弯曲。该系统还包括：包括第一屏蔽层、第二屏蔽层以及靠近第一和第二屏蔽层设置的读取传感器堆栈的磁读取头，其中读取头根据读取重放灵敏度函数感测多个磁比特畴的每一个的磁场，其中至少屏蔽层和读取传感器堆栈被配置成提供与相应磁比特畴的形状基本对应的读取器重放灵敏度函数。

本公开的一个或多个实施例的细节在以下描述和附图中阐述。通过阅读以下详细描述，这些特征和优点以及各种其它特征和优点显而易见。

附图说明

图1是根据本公开一个方面的包括示例性磁读取/写入头的示例性磁性硬盘驱动器的示意图。

图2A和2B是图示两条示例性数据道的部分的示意图。

图3是图示具有弯曲过渡边界的示例磁数据道的微磁性模拟图。

图4是图示示例性读取头的示例性读取灵敏度函数的图示。

图5是图示的根据本公开一个实施例的示例性读取头的示例性读取灵敏度函数的图示。

图6是图示根据本公开一个实施例的示例性读取头的示意图。

图7A-7F图示根据本公开一个实施例的可以用于制造图6的示例性读取头的示例性技术。

图8是示例性读取头的透射电子显微镜(TEM)显微图，该示例性读取头与图6所示的应用图7A-7F所示的示例性技术的示例性读取头基本相似。

图9是图示根据本公开一个实施例的另一示例性读取头的示意图。

图10A-10D图示用于制造具有曲面的示例性屏蔽层的示例性技术。

图11是图示根据本公开一个实施例的另一示例性读取头的示意图。

图12是示例性读取传感器的透射电子显微镜(TEM)显微图。

具体实施方式

通常，本公开涉及一种用于感测例如与磁存储应用相关的磁场的系统、装置以及方法。例如，说明了配置成提供经剪裁的读取器重放灵敏度函数的磁读取头。读取头可以根据与读取头相关联的读取器重放灵敏度函数，检测磁存储介质发出的磁场。该读取头可以结合到硬盘驱动器所用的一个或多个磁记录头中。然而，虽然本公开的实施例针对硬盘驱动器中所用的读取头描述了磁场的感测，然而实施例不限于这些应用，而是替代地，还可以结合到其它适合的应用中，例如那些需要精确检测磁场的应用。

图1图示根据本公开一方面的包括示例性磁记录头112的示例性磁性硬盘驱动器100。盘驱动器100包括基座102和示图中被部分切除的顶盖104。基座102结合顶盖104形成盘驱动器100的壳体106。盘驱动器100还包括一个或多个磁存储部件，该磁存储部件包括磁存储介质，图1中磁存储部件是包括磁存储介质的一个或多个可旋转的磁性数据盘108。数据盘108附连到轴114，该轴114用于绕中心轴旋转盘108。磁记录头112与数据盘108相邻。致动臂110承载磁记录头112以与每一数据盘108通信。

磁记录头112包括可以通过生成足以磁化数据盘108的磁存储介质的离散畴的磁场而向数据盘108写入数据的写入头(未示出)。如本文所使用的，磁介质上这些离散畴的每一个被称为磁比特畴。数据盘108的磁存储介质分为多个同心圆数据道，其中排列有磁比特畴。

磁记录头112还包括能够检测磁存储介质的比特畴的磁场的读取头(未示出)。例如，读取头可以包括感测比特畴磁场的读取传感器。随着读取传感器感测的磁场发生变化，跨读取传感器施加的电流的电阻也发生变化。基于电阻的变化，读取头能够检测磁存储介质比特畴的磁取向，这种磁取向对应于值“0”或“1”。通过这种方式，数据盘108将信息存储为可由记录头112写入和读取的经磁取向的比特。