[发明专利]热分析装置有效
| 申请号： | 201110088494.X | 申请日： | 2011-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN102235987A | 公开（公告）日： | 2011-11-09 |
| 发明（设计）人： | 山田健太郎;西村晋哉;藤原宽仁 | 申请（专利权）人： | 精工电子纳米科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N25/20 | 分类号： | G01N25/20;F27B17/02 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 严志军;杨楷 |
| 地址： | 日本千叶*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 分析 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种热分析装置，对于加热炉内的试样进行加热和冷却，并对此时的热举动进行测量和计测，
具备至少二层以上的密闭的层构造的多层构造体，该多层构造体以与外界隔离的方式覆盖所述加热炉周围。
2.根据权利要求1所述的热分析装置，其特征在于，
所述多层构造体的层间由具有与所述加热炉内的气体同等的热容量的物质填充。
3.根据权利要求2所述的热分析装置，其特征在于，
所述多层构造体的层间的填充材料是气体。
4.根据权利要求1所述的热分析装置，其特征在于，
所述多层构造体由金属构成。
5.根据权利要求4所述的热分析装置，其特征在于，
所述金属的厚度为0.1～3mm。
6.根据权利要求1所述的热分析装置，其特征在于，
所述多层构造体的层数为二层～五层。
7.根据权利要求1或3所述的热分析装置，其特征在于，
所述多层构造体的层间距离为0.5～50mm。
8.根据权利要求1～7中任一项所述的热分析装置，其特征在于，
所述热分析装置是差示扫描量热仪。
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