[发明专利]一种塑封晶体管溢料软化液及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201110091084.0 申请日: 2011-04-04
公开(公告)号: CN102270587A 公开(公告)日: 2011-12-07
发明(设计)人: 修建东 申请(专利权)人: 修建东
主分类号: H01L21/56 分类号: H01L21/56
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 264006 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 塑封 晶体管 软化 及其 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及半导体塑封封装工艺流程的去飞边化工技术领域,尤指一种塑封晶体管溢料软化液及其制备方法。

背景技术

自2000年以来,中国半导体产业的发展开始步入快车道,国内IC设计和芯片制造规模的不断扩大,内地崛起的半导体晶圆代工产业的发展,对后段制造的拉动效应已开始显现,中国半导体封装测试业在近几年也同样保持了稳定快速发展的势头;国内电子产品市场的迅速壮大,出于接近客户需求目的,特别是得益于国内良好的投资环境,国际大型半导体公司纷纷将其封装企业转移至国内,直接拉动了国内半导体封装产业规模的迅速扩大,目前中国已经成为全球增长最快的半导体封装市场之一。根据资料显示,90%以上的晶体管及70%~80%的集成电路已使用塑料封装材料,而环氧树脂封装塑粉是最常见的塑料封装材料。典型的晶体管封装工艺流程为:划片、装片、键合、塑封、去飞边、电镀、打印、切筋、外观检查、测试和包装出货,溢料问题是封装过程中常见的质量问题,有溢料就会形成飞边、附着接线引脚和散热片,从而影响成品晶体管外观、可焊性和散热性,如何减少溢料的发生和去除溢料是封装工程师、电镀工程师以及材料生产商和模具制造商共同探讨和重视的课题。将塑封晶体管溢料用化学方法软化,制备一种软化液,为去除溢料提供了一种方便经济的解决办法,提高了塑封晶体管封装良率以及组装良率。

发明内容

本发明一种塑封晶体管溢料软化液及其制备方法,具有造价低廉、使用方便,并提高了塑封晶体管封装良率以及组装良率。

为了实现上述目的,本发明提供一种塑封晶体管溢料软化液及其制备方法,该软化液的组分及质量百分含量为:

其中,A组分是至少一种具有通式结构的酰胺化合物,

这里R1或者是H或者是碳数为1~4的烷基,R2是碳数为1~4的烷基、烯基或羟烷基,R3是碳数为1~4的烷基、烯基或羟烷基。

B组分是通式为R4O-(AO)n-R5的化合物,R4是碳数为6~18的烷基、烯基或苯基,R5或者是H或者是碳数为1~6的烷基、烯基中的一种,AO是具有碳数为2~4的环氧烷烃,优选碳数为2或3的环氧烷烃,n是从9到20的整数,其主要作用是增强的浸透性和表面洗净力。

C组分是NH4F,在加热的条件下,与溢料中的硅微粉发生化学反应,从而加速溢料的软化。

D组分是三乙醇胺、二乙醇胺和异丙醇胺中的至少一种,其主要作用为碱性调整剂,使软化液长期稳定显弱碱性。

E组分是去离子水。

本发明的制备方法为:将上述组分原料在30~50℃温度下加热溶解,在反应釜中逐个加入上述各组分,使其全部溶解,可得到均匀透明的弱碱性浅黄色液体,罐装即为成品。

具体实施方式

实施例1

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