[发明专利]一种用于垂直发光二极管的测试分选装置

说明书

技术领域

本发明涉及光电技术领域，特别是用于垂直发光二极管的测试分选装置。

背景技术

绿色环保的LED光源要用于照明领域，大功率、高效率是使其得以普及的关键要素。传统结构的LED芯片，也称正装结构LED，它的两个电极在同一面。另外一种垂直结构的LED芯片，它的上下电极分布在外延片的两个面。

     现有技术中对LED芯片的测试分选设备大部分是针对正装结构的。大致的方式是，将切割、裂解为单颗芯粒的正装结构LED芯片蓝宝石一面粘附于蓝膜上，用两个探针分别扎位于同一面的两个电极，测得其光电性，采用预先制定好的分类规则将这些不同光电性能的芯片分成若干个类别，一个类别成为一个bin，然后输出一个分选文档。该文档包含的信息有芯片在蓝膜上的相对坐标、所属的bin以及其光电特性。将这个文档传输给分选设备，分选设备会根据这些信息，将一个个芯片分选到其所属的bin的蓝膜上去完成测试分选过程。垂直结构的LED芯片由于其电极位于芯片的两侧，采用传统的蓝膜上测试的方式是行不通的，因为蓝膜是绝缘体，粘附于蓝膜上的下电极无法连接至测试电源。而专用于垂直结构LED芯片的流水线作业形式的测试分选设备国内外还未见公开报道过。

发明内容

针对上述现有技术中存在的不足，本发明的目的是提供一种用于垂直发光二极管的测试分选装置。它能自动实现对垂直结构LED芯片的测试和分选作业，具有操作简单、效率高的特点。

为了达到上述发明目的，本发明的技术方案以如下两种方式实现：

方式一

一种用于垂直发光二极管的测试分选装置，它包括待测试盘、测试盘、分选盘和测试系统。其结构特点是，所述待测试盘、测试盘和分选盘都设为可旋转、水平移动及上下移动的圆盘。置于测试盘一侧的待测试盘上置有芯片，分选盘置于测试盘的另一侧。测试盘上表面一圈均布多个放置槽，各放置槽底部连接真空管。测试盘上方与测试位置的放置槽的对应处置有探头和探针，探头和探针分别与测试系统相连接。待测试盘和测试盘之间设有能旋转换位的测试吸嘴，分选盘和测试盘之间设有能旋转换位的分选吸嘴。

方式二

一种用于垂直发光二极管的测试分选装置，它包括待测试盘、测试盘、分选盘和测试系统。所述待测试盘和分选盘都设为可旋转、水平移动及上下移动的圆盘，置于测试盘一侧的待测试盘上置有芯片，分选盘置于测试盘的另一侧。测试盘上表面一圈均布多个放置槽，各放置槽底部连接真空管，测试盘上方置有能水平移动和上下移动的探头及探针，探头和探针分别与测试系统相连接。待测试盘和测试盘之间设有能旋转换位的测试吸嘴，分选盘和测试盘之间设有能旋转换位的分选吸嘴。

本发明由于采用了上述的结构，具有如下的有益效果：

1. 提供了一种用于垂直结构LED芯片测试分选的装置，解决了目前垂直结构LED芯片解离后无法自动化测试的难题；

2. 本发明装置充分发挥了流水作业的优点，将芯片测试与分选有机连接起来且可以同时工作，可以有效提高测试分选的速率。

    下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步说明。

附图说明

图1为本发明结构示意图。

具体实施例

实施例一

参看图1，本发明包括待测试盘102、测试盘104、分选盘110和测试系统108。待测试盘102、测试盘104和分选盘110为能旋转、水平移动及上下移动的圆盘。待测试盘102置于测试盘104的一侧上置芯片101，分选盘110置于测试盘104的另一侧。测试盘104上表面一圈均布多个放置槽105，各放置槽105底部连接真空管。测试盘104上方与测试位置的放置槽105的对应处置有探头107和探针106，探头107和探针106分别与测试系统108相连接。待测试盘102和测试盘104之间设有能旋转换位的测试吸嘴103，分选盘110和测试盘104之间设有能旋转换位的分选吸嘴109。

本发明使用时的测试分选步骤为：

第一步：经扩晶后的芯片101位于待测试盘102上，待测试盘102可以选用行业通用的蓝膜。由测试吸嘴103将芯片101吸取至测试盘104测试位置的放置槽105中。然后，测试盘104升高，测试位置真空打开。测试位置上方的探头107根据测试系统108中预先设定的标准图形来辨别芯片101的左右位置与旋转角度是否合适。