[发明专利]用于准循环低密度奇偶校验码的再定址解码器与解码方法有效
申请号: | 201110093121.1 | 申请日: | 2011-04-08 |
公开(公告)号: | CN102739346A | 公开(公告)日: | 2012-10-17 |
发明(设计)人: | 顾育先;林东昇;童泰来 | 申请(专利权)人: | 晨星软件研发(深圳)有限公司;晨星半导体股份有限公司 |
主分类号: | H04L1/00 | 分类号: | H04L1/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陈亮 |
地址: | 518057 广东省深圳市高新区*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 循环 密度 奇偶 校验码 定址 解码器 解码 方法 | ||
1.一再定址解码器,应用于准循环低密度奇偶校验码的解码,包含:
一存储器,储存一准循环编码矩阵,该准循环编码矩阵包含多个子矩阵,各子矩阵具有一对应地址;
一控制器,再定址各子矩阵为多个分割矩阵,并定义这些分割矩阵至一第一地址群或一第二地址群内;以及
多个平行处理器,耦接于该控制器,对定义于该第一地址群的这些分割矩阵以及定义于该第二地址群的这些分割矩阵进行除错演算,以产生一第一除错结果以及一第二除错结果,这些平行处理器的总数与定义于该第一地址群的这些分割矩阵的总数或定义于该第二地址群的这些分割矩阵的总数间为整数比例关系。
2.如权利要求1所述的再定址解码器,其特征在于,该控制器决定各子矩阵的至少一轴指标以对这些子矩阵进行再定址。
3.如权利要求2所述的再定址解码器,其特征在于,该第一除错结果以及该第二除错结果中分别包含所对应的各分割矩阵的一x轴指标与一y轴指标。
4.如权利要求1所述的再定址解码器,其特征在于,各子矩阵与各子矩阵所对应的这些分割矩阵间的比值为一第一比值,这些子矩阵的总数与这些平行处理器的总数间的比值为一第二比值,该第一比值与该第二比值间是整数比例关系。
5.如权利要求1所述的再定址解码器,其特征在于,这些平行处理器以最小和演算法实施除错演算,分别比较该第一除错结果以及该第二除错结果中的最小值以完成除错演算。
6.如权利要求3所述的再定址解码器,其特征在于,该子矩阵的总量为360个,且这些平行处理器的总量为180个,这些平行处理器以各分割矩阵对应的这些y轴指标进行除错演算。
7.如权利要求3所述的再定址解码器,其特征在于,该子矩阵的总量为360个,且这些平行处理器的总量为120个,这些平行处理器以各分割矩阵对应的这些x轴指标以及这些y轴指标进行除错演算。
8.如权利要求1所述的再定址解码器,其特征在于,该控制器还包含一再定址控制器以及一桶状移位器,该再定址控制器产生该第一除错结果以及该第二除错结果,该桶状移位器依据该第一除错结果以及该第二除错结果,藉由地址位移将各子矩阵转换为单元矩阵。
9.如权利要求1所述的再定址解码器,其特征在于,该存储器包含多个存储器单元,各子矩阵储存于这些存储器单元之一中。
10.如权利要求1所述的再定址解码器,其特征在于,当各子矩阵为一M*M矩阵,对应该第一地址群的这些分割矩阵的总数与这些平行处理器的总数的比例为n时,各分割矩阵的长度为M/n,该控制器将该轴指标与这些分割矩阵的长度比较,当该轴指标小于M/n,该轴指标与对应这些分割矩阵的这些子矩阵的这些对应地址相同,将该轴指标定址于一第一分割矩阵中,当该轴指标大于M/n且小于2M/n时,将该轴指标值定址于一第二分割矩阵中,并将x轴指标重设为x轴指标值减去(M/n)。
11.一种再定址解码方法,应用于准循环低密度奇偶校验码的解码,包含下列步骤:
依据一分割矩阵总数,再定址各子矩阵为多个分割矩阵,并定义这些分割矩阵至一第一地址群或一第二地址群内;以及
对定义于该第一地址群的这些分割矩阵以及定义于该第二地址群的这些分割矩阵进行除错演算。
12.如权利要求11所述的再定址解码方法,其特征在于,再定址各子矩阵为多个分割矩阵的步骤中,还包含下列步骤:
决定各子矩阵的至少一轴指标,并依据各轴指标对这些子矩阵进行再定址。
13.如权利要求12所述的再定址解码方法,其特征在于,还包含下列步骤:
产生一第一除错结果以及一第二除错结果,其中该第一除错结果以及该第二除错结果中分别包含所对应的各分割矩阵的丨x轴指标与一y轴指标。
14.如权利要求11所述的再定址解码方法,其特征在于,除错运算是以多个平行运算处理器实现,且各子矩阵与各子矩阵所对应的这些分割矩阵间的比值为一第一比值,这些子矩阵的总数与这些平行处理器的总数间的比值为一第二比值,该第一比值与该第二比值间整数比例关系。
15.如权利要求14所述的再定址解码方法,其特征在于,这些平行处理器以最小和演算法实施除错演算,比较该第一除错结果以及该第二除错结果的最小值以完成除错演算。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于晨星软件研发(深圳)有限公司;晨星半导体股份有限公司,未经晨星软件研发(深圳)有限公司;晨星半导体股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110093121.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:转向翻钢装置
- 下一篇:同步NAND的数据操作系统及方法