[发明专利]一种计算循环冗余校验码的方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及冗余校验技术，特别涉及一种计算循环冗余校验码的方法及装置。

背景技术

循环冗余校验(CRC)采用多项式编码方法，被处理的数据块可以看作是一个n阶的二进制多项式，具体说就是，CRC校验码的编码方法是用待发送的二进制数据g(x)除以生成多项式m(x)，将最后的余数c(x)作为CRC校验码。

图1为现有的采用标准查找表计算循环冗余校验的方法流程图，现结合图1，对现有的采用标准查找表计算循环冗余校验的方法进行说明，具体如下：设定寄存器的宽度为n，输入比特位数为m；

步骤101：定义一个宽度为n比特的寄存器R用来存放循环冗余校验码，并将寄存器R的值置为0；

寄存器的长度一般为处理器的基本存储单元的整数倍，比如8比特、16比特、32比特等等；寄存器R的值置为0，即设置(r_n-1，...，r₀)比特序列为0。

步骤102：比较m与n的大小关系，如果m小于n，执行步骤103，如果m等于n，执行步骤105，如果m大于n，执行步骤109；

步骤103：将寄存器R右移n-m比特，即得到(r_n-1，...，r_n-k-r)序列，将所得到的序列和m个输入比特异或；

步骤104：根据步骤103的异或结果，在查找表中找到对应的值，与寄存器R左移m比特得到的序列(r_m-1，...，r₀)异或，得到新的CRC值，之后执行步骤107；

步骤105：将输入的m个比特与寄存器R异或；

该步骤就是将输入的m比特与(r_m-k-1，...，r₀)异或。

步骤106：根据步骤105的异或结果，在查找表中找到对应的值，就得到新的CRC值；

步骤107：判断是否所有消息比特都被移入处理，如果是，执行步骤108，否则执行步骤102；

步骤108：留在寄存器R中的数值就是输入序列的循环冗余校验码；

步骤109：结束。

图1所示现有的采用标准查找表计算循环冗余校验的方法需要提供存储2^m×n比特大小的查找表，虽然运算量小，速度快，但并行度不能过高，且不能处理m大于n时的情况。

申请号为200310122447.8的发明专利公开了“一种循环冗余校验的快速计算方法”，该方法与图1所示的方法相比，能够通过预先生成的查找表，快速处理m大于n的情况。图2为现有的循环冗余校验的快速计算方法的流程图。现结合图2，对现有的循环冗余校验的快速计算方法进行说明，具体如下：

步骤201：根据当前所采用CRCn生成器的逻辑结构，获取并存储该生成器中每个移位寄存器在处理输入序列的每个输入比特时的状态；

步骤202：从步骤201所获取的所有移位寄存器的全部状态中，提取出处理完输入序列每个比特后CRCn生成器中每个移位寄存器的状态；并将所提取出的每个移位寄存器状态组成中的移位寄存器初始状态表示部分和输入序列表示部分分别存储；

步骤203：以每个分别存储部分包含自变量的不同取值为地址索引，生成该存储部分对应的查找表，所述查找表中包括所述自变量的不同取值与所述处理完输入序列每个比特后CRCn生成器中每个移位寄存器状态间的对应关系；

步骤204：以CRCn模式进行CRC校验时，判断当前需处理的比特数是否大于每次能处理的比特数m，如果不是，则按步骤101至步骤109的方法进行处理，如果是，则读取m比特，分别以输入比特和移位寄存器变量的当前取值为地址索引，查找输入序列表示部分对应的查找表和移位寄存器初始状态表示部分对应的查找表，然后将所有查找结果进行异或并保存异或结果；将对应每个移位寄存器的异或结果分别作为该移位寄存器的当前状态，返回步骤204。