[发明专利]一种振动试验台和一种振动传感器的测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及振动测量领域，尤其涉及一种振动试验台和一种振动传感器的测试方法。

背景技术

随着传感器技术的发展，绝对振动测量、特别是超低频绝对振动测量在振动测量领域越来越重要，而随着超低频加速度振动传感器、超低频振动速度传感器在水轮发电机、桥梁、隧道、地震监测等测控领域（这些领域的振动频率大多在0.5Hz～200Hz之间）大批量应用，现有频响下限高（一般只能做到20Hz）的振动试验台已无法满足超低频振动试验。

现有国内的超低频振动试验台主要依靠进口，但这些试验台价格昂贵、体积庞大、结构复杂、对试验条件要求苛刻，导致大部分实验者无法购买、使用试验台，即使拥有试验台也无法对所使用的振动传感器进行合格检验和数据标定。

发明内容

本发明的目的在于解决现有技术中超低频试验台价格昂贵、体积庞大、 结构复杂、对试验条件要求苛刻的技术问题。

本发明提供了一种振动试验台，包括中央处理单元、信号发生单元、振动产生单元、标准传感器和显示单元；中央处理单元用于控制信号发生单元发生振动信号，并传递给振动产生单元产生相应振动；

标准传感器和待测传感器分别感应振动产生单元的振动，标准传感器测量的标准振动信号和待测传感器的输出信号分别传输给中央处理单元，中央处理单元将标准振动信号和待测传感器的输出信号的比较结果传输给显示单元。

本发明还提供了一种振动传感器的测试方法，包括将待测传感器置于权1所述的振动试验台上；中央处理单元控制信号发生单元产生振动信号，驱动振动产生单元产生相应振动；标准传感器和待测传感器分别感应振动产生单元的振动，将标准传感器测量的标准振动信号和待测传感器的输出信号分别传输给中央处理单元，中央处理单元将标准振动信号和待测传感器的输出信号进行比较，对待测传感器进行合格判定，并将结果传输给显示单元。。

本发明提供的振动试验台，通过采用标准传感器和待测传感器同时感应振动产生单元的振动，并将各自测量的振动信号进行比较，从而对待测传感器进行合格判定，并通过显示单元使操作者能直接对所使用的振动传感器进行合格检验和数据标定，结构简单，便于携带；全智能控制，易于操作，成本也较低。

附图说明

图1为本发明提供的振动试验台的结构示意图。

其中，1——激振器，2——承载盘，3——标准靶盘，4——CPU，5——正弦波信号发生器，6——信号放大器，7——标准传感器， 8——待测传感器，9——液晶显示屏，10——触摸屏，11——电位器， 12——RS232接口，71、72——标准振动位移传感器，73——标准加速度传感器。

具体实施方式

为了使本发明所解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图对本发明作进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明提供了一种振动试验台，包括中央处理单元、信号发生单元、振动产生单元、标准传感器和显示单元；中央处理单元用于控制信号发生单元发生振动信号，并传递给振动产生单元产生相应振动；

标准传感器和待测传感器分别感应振动产生单元的振动，标准传感器测量的标准振动信号和待测传感器的输出信号分别传输给中央处理单元，中央处理单元将标准振动信号和待测传感的输出信号的比较结果传输给显示单元。

如图1所示，中央处理单元包括触摸屏10和CPU 4。其中触摸屏10用于设定振动信号数据，CPU 4将该设定的数据传输给信号发生单元。信号发生单元包括正弦波信号发生器5和信号放大器6。CPU 4控制正弦波信号发生器5产生之前设定的振动信号，并传输给信号放大器6。信号放大器6将该振动信号进行放大，传输给振动产生单元，以驱动振动产生单元产生相应的振动。正弦波信号发生器5的频率步长可低至0.1Hz，最大推力为50N。