[发明专利]快速热处理设备的监测方法有效

专利信息
申请号: 201110095825.2 申请日: 2011-04-17
公开(公告)号: CN102751208A 公开(公告)日: 2012-10-24
发明(设计)人: 李春龙;李俊峰 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66
代理公司: 北京蓝智辉煌知识产权代理事务所(普通合伙) 11345 代理人: 陈红
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 快速 热处理 设备 监测 方法
【权利要求书】:

1.一种快速热退火设备的监测方法,其特征在于,所述方法包括:

提供多个产品晶圆,所述产品晶圆用于制造所需要的集成电路,每个所述产品晶圆均具有多个管芯;

所述管芯包括焊盘区域,所述焊盘区域用于将所述管芯与外部电路电连接;

将多个所述产品晶圆置于离子注入设备中,进行离子注入;

在进行离子注入之后,将多个所述产品晶圆置于快速热退火设备中,对多个所述产品晶圆进行快速热退火处理;

在快速热退火处理后,进行数据测量步骤;

其中,所述数据测量步骤包括:

在进行快速热退火后,取出多个所述产品晶圆中的任意一个或多个,测量取出的所述产品晶圆的管芯内的所述焊盘区域的热波数据,接着,将所述热波数据送入统计过程控制设备,通过对所述热波数据的统计和分析,从而监测所述快速热退火设备的状态。

2.如权利要求1所述的快速热退火设备的监测方法,其特征在于,多个所述产品晶圆分不同批次进行快速热退火,在每一个批次快速热退火后,均进行所述数据测量步骤。

3.如权利要求1所述的快速热退火设备的监测方法,其特征在于,多个所述产品晶圆分不同批次进行快速热退火,在每5个或10个批次快速热退火后,进行一次所述数据测量步骤。

4.如权利要求1所述的快速热退火设备的监测方法,其特征在于,在所述快速热退火设备每连续运行2、3或4小时后,进行一次所述数据测量步骤。

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