[发明专利]LED芯片及其制备方法无效
申请号: | 201110096563.1 | 申请日: | 2011-04-18 |
公开(公告)号: | CN102751431A | 公开(公告)日: | 2012-10-24 |
发明(设计)人: | 房力 | 申请(专利权)人: | 北京地调科技发展有限公司 |
主分类号: | H01L33/64 | 分类号: | H01L33/64;H01L33/62;H01L33/38;H01L33/14;H01L33/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 任默闻 |
地址: | 100025 北京市朝阳区石*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | led 芯片 及其 制备 方法 | ||
1.一种LED芯片,其特征在于,所述LED芯片包括:
一导电载片,用于作为所述LED芯片的金属衬底;
一N型接触电极,位于所述导电载片之上;
一Ag基底层,位于所述N型接触电极之上;
一P型接触电极,位于所述Ag基底层之上的一开槽中;
一P型GaN基半导体层,位于所述Ag基底层之上;
一N型GaN基半导体层,位于所述P型GaN基半导体层之上,所述N型接触电极通过所述P型GaN基半导体层的贯通孔与所述N型GaN基半导体层电气连接。
2.如权利要求1所述LED芯片,其特征在于,所述LED芯片还包括:
一绝缘层,覆盖所述N型接触电极,以隔绝所述N型接触电极与所述Ag基底层及其上的所述P型接触电极相接触。
3.如权利要求1所述LED芯片,其特征在于,所述N型GaN基半导体层位于发光表面的一侧为粗糙的表面。
4.如权利要求1所述LED芯片,其特征在于,所述导电载片的材质包括如下的一种或者多种:铜及其合金、Si、AlN。
5.如权利要求1所述LED芯片,其特征在于,所述贯通孔为多个。
6.一种LED芯片的制备方法,其特征在于,所述方法包括:
于一GaN基LED外延片上的P型GaN基半导体层表面制作一Ag基底层;
于所述Ag基底层和所述P型GaN基半导体层中刻蚀贯通孔至所述GaN基LED外延片上的N型GaN基半导体层;
制作一N型接触电极,使所述N型接触电极通过所述P型GaN基半导体层的贯通孔与所述N型GaN基半导体层电气连接;
采用激光剥离蓝宝石GaN衬底后,将所述GaN基LED外延片倒置于一导电载片上;
于所述Ag基底层之上制作一开槽,并于所述开槽中制作一P型接触电极,以制作一LED芯片。
7.如权利要求6所述方法,其特征在于,所述方法还包括:
于所述Ag基底层和所述P型GaN基半导体层中刻蚀贯通孔至所述GaN基LED外延片上的N型GaN基半导体层后,制作一绝缘层覆盖所述Ag基底层和所述贯通孔的侧壁。
8.如权利要求6所述方法,其特征在于,所述方法还包括:
于所述Ag基底层之上制作一开槽,并于所述开槽中制作一P型接触电极后,对所述N型GaN基半导体层位于发光表面的一侧的表面进行表面粗化处理。
9.如权利要求6所述方法,其特征在于,所述将所述GaN基LED外延片倒置于一导电载片上,包括:
采用机械键合或电镀的方式,将所述GaN基LED外延片倒置于一导电载片上。
10.如权利要求6所述方法,其特征在于,所述于所述Ag基底层和所述P型GaN基半导体层中刻蚀贯通孔至所述GaN基LED外延片上的N型GaN基半导体层,包括:
于所述Ag基底层和所述P型GaN基半导体层中刻蚀多个贯通孔至所述GaN基LED外延片上的N型GaN基半导体层。
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