[发明专利]计数检相解码装置和方法无效
申请号: | 201110097924.4 | 申请日: | 2011-04-19 |
公开(公告)号: | CN102315851A | 公开(公告)日: | 2012-01-11 |
发明(设计)人: | 冯向光;孙海;顾奇龙 | 申请(专利权)人: | 无锡辐导微电子有限公司 |
主分类号: | H03M5/10 | 分类号: | H03M5/10 |
代理公司: | 无锡互维知识产权代理有限公司 32236 | 代理人: | 王爱伟 |
地址: | 214125 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 计数 解码 装置 方法 | ||
1.一种计数检相解码装置,其特征在于,其包括:
信号接收模块,接收目标信号;
信号采样模块,根据采样信号采样所述目标信号得到采样点;
计数检相解码模块,比较所述采样点的值与基准信号对应位置的值,当所述采样点的值与基准信号对应位置的值相同时则基数加1,否则基数减1或不对基数进行处理;和
解码判断模块,判断所述基数是否达到预定阈值,如果所述基数达到所述预定阈值则判定所述目标信号符合基准信号的特征,否则所述目标信号不符合基准信号的特征。
2.根据权利要求1所述的计数检相解码装置,其特征在于:所述计数检相解码装置还包括脉冲信号生成模块和基准信号生成模块,
所述脉冲信号生成模块生成一固定占空比的脉冲信号;
所述基准信号生成模块隔预定空闲时长采样预定工作时长的所述脉冲信号以生成基准信号,所述预定工作时长等于所述脉冲信号的周期的整数倍。
3.根据权利要求2所述的计数检相解码装置,其特征在于:每个预定空闲时长为等长或不等长的时间长度,每个预定工作时长为等长或不等长的时间长度。
4.根据权利要求2所述的计数检相解码装置,其特征在于:所述计数检相解码装置还包括采样信号生成模块,所述采样信号生成模块包括脉冲信号预采样单元和采样信号生成单元,
所述脉冲信号分频单元,根据所述脉冲信号生成预采样信号,所述预采样信号的周期为所述脉冲信号的周期的纯分数倍;和
所述采样信号生成单元,根据所述预采样信号生成采样信号,所述采样信号内的正脉冲对应于所述基准信号内的正脉冲和/或负脉冲。
5.根据权利要求4所述的计数检相解码装置,其特征在于:所述基准信号包括若干个周期的脉冲信号,一个周期的脉冲信号包括正脉冲和负脉冲;所述采样信号内包括正脉冲,且所述采样信号内的正脉冲对应于所述基准信号内的正脉冲和/或负脉冲,其中采样信号内的正脉冲长度小于或等于基准信号内的正脉冲和/或负脉冲长度。
6.根据权利要求4所述的计数检相解码装置,其特征在于:所述计数检相解码装置还包括判断信号生成模块,所述判断信号生成模块生成判断信号,所述判断信号内包括正脉冲,所述判断信号内的正脉冲对应时刻为A+T,所述A为每个预定工作时长的末时刻,所述T为大于或等于一个工作周期且小于或等于预定空闲时长的长度。
7.根据权利要求6所述的计数检相解码装置,其特征在于:所述解码判断模块在所述判断信号正脉冲的时刻计算所述基数的大小,如果所述基数超过所述预定阈值则判定所述目标信号符合基准信号的特征,否则所述目标信号不符合基准信号的特征;计数检相解码模块在判断信号判断后将其中的基数恢复到初始值。
8.根据权利要求1所述的计数检相解码装置,其特征在于:所述信号采样模块根据采样信号采样所述目标信号以得到采样点包括:
在所述采样信号为正脉冲时,则采样所述目标信号以得到采样点。
9.一种计数检相解码方法,其特征在于,其包括:
接收目标信号;
采样所述目标信号得到采样点;
比较所述采样点的值和基准信号对应位置的值,当所述采样点的值和基准信号对应位置的值相同时则基数加1,否则基数减1;和
判断所述基数是否达到预定阈值,如果所述基数达到所述预定阈值则判定所述目标信号符合基准信号的特征,否则所述目标信号不符合基准信号的特征,并将基数返回初始值。
10.根据权利要求9所述的计数检相解码方法,其特征在于:所述计数检相解码方法还包括:
生成一固定占空比的脉冲信号;
隔预定空闲时长采样预定工作时长的所述脉冲信号以生成基准信号;
根据所述脉冲信号生成预采样信号,并根据所述预采样信号生成采样信号,所述预采样信号的周期为所述脉冲信号的周期的纯分数倍,所述采样信号内的正脉冲对应于所述基准信号内的正脉冲和/或负脉冲。
11.根据权利要求10所述的计数检相解码方法,其特征在于:每个预定空闲时长为等长或不等长的时间长度,每个预定工作时长为等长或不等长的时间长度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于无锡辐导微电子有限公司,未经无锡辐导微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110097924.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种溅射阳极罩及溅射装置
- 下一篇:考古调查中的探地雷达属性分析方法