[发明专利]一种射频指标测试方法及系统

权利要求书

1.一种射频指标测试方法，其特征在于，该方法包括：

设置射频指标的数据采集参数，启动预定义的该射频指标对应的测量函数；

根据所设置的射频指标的数据采集参数采集射频指标的数据；

通过所述测量函数将采集到的射频指标的数据进行处理；

输出处理后的射频指标的数据。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述设置射频指标的数据采集参数包括：

设置所要采集的射频指标的数据类型、采集该射频指标的数据的采集时间点、采集该射频指标的数据的采样率。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所设置的射频指标的数据采集参数采集射频指标的数据包括：

将所要检测的射频指标的模拟信号转换成数字信号后，采集该数字信号。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所设置的射频指标的数据采集参数采集射频指标的数据包括：

将采集到的不同采样位置的射频指标的数据与该位置的预设值对比，判断上下行通道的工作状况。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述射频指标是信噪比SNR，

所述通过测量函数将采集到的射频指标的数据进行处理包括：

采集指定采集点的ADC类型的数据，在所采集到的数据中获取最大信号功率的频点和功率P₀；

在所采集到的数据中获取该采集点的有效频点的信号中前六次谐波和直流信号功率P₁；

在所采集到的数据中获取除有效频点的信号外其他信号的功率P₂；

调用与SNR相对应的测量函数SNR＝10×1og₁₀(P₀/(P₂-P₁))，计算得到射频指标SNR的值。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述射频指标是输出功率；

所述根据所设置的射频指标的数据采集参数采集射频指标的数据包括：

实时检测输出信号功率，与预设的额定输出功率进行比较，根据对比结果调整发送增益控制。

7.一种射频指标测试系统，其特征在于，该系统包括：FPGA模块、处理器模块；其中，

处理器模块，用于根据所设置的射频指标的数据采集参数，向FPGA模块发送数据采集命令；用于接收FPGA模块所采集到的射频指标的数据，调用预定义的该射频指标对应的测量函数进行处理；

FPGA模块，用于接收处理器模块发送的射频指标的数据采集命令，对相应的射频指标的数据进行采集，把采集到的射频指标的数据发送给处理器模块进行处理。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述FPGA模块包括：ADC接口模块、DAC接口模块、与DAC接口模块相连的数字预失真模块、与数字预失真模块相连的峰值因子消减模块、与峰值因子消减模块相连的数字上变频模块、与ADC接口模块相连的数字下变频模块、2个IR接口模块其中一个与数字上变频模块另一个与数字下变频模块相连，操作维护接口模块、信号采集模块；其中，

操作维护接口模块，用于接收处理器模块发送的数据采集命令，将所接收到的数据采集命令转送给信号采集模块；

信号采集模块，用于接收操作维护接口模块转发的数据采集命令，根据该数据采集命令对所对应模块的输出信号进行数据采集操作。

9.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述射频指标是SNR包括：

信号采集模块采集ADC接口模块所有的输出信号，通过操作维护接口模块发送给处理器模块；

处理器模块在所采集到的输出信号中获取最大信号功率的频点和功率P0；

处理器模块在所采集到的输出信号中获取有效频点的信号中前六次谐波和直流信号功率P1；

处理器模块在所采集到的输出信号中获取除有效频点的信号外其他信号的功率P2；

处理器模块调用与SNR相对应的测量函数SNR＝10×log₁₀(P₀/(P₂-P₁))，计算得到射频指标SNR的值。

10.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述处理器模块，用于将信号采集模块采集到的射频指标的数据进行处理后，与该射频指标的预设值进行对比，判断上下行通道的工作状况。