[发明专利]墙盒分频器专用测试线

说明书

技术领域：

本发明涉及一种信号传输线，具体讲是一种在检测墙盒分频器性能时，用来连接墙盒分频器与测试仪器的专用测试线。

背景技术：

墙盒分频器在出厂前，都要使用测试仪器对墙盒分频器的性能进行检测，在检测时要用到墙盒分频器专用测试线把墙盒分频器与测试仪器连接起来，目前使用的墙盒分频器专用测试线一般使用普通的同轴电缆线制作而成，如图4所示，普通的同轴电缆线一般包括铜针101，铜针101外包裹有塑料层102，塑料层102外包裹有铜编织网层103，铜编织网层103外包裹有绝缘层104，在制作墙盒分频器专用测试线时，人们首先把同轴电缆线上下两端的塑料层102、铜编织网层103和绝缘层104同时剥掉一段露出铜针101，再把同轴电缆线一端的绝缘层104剥掉一段露出铜编织网层103，然后再在另一端的铜编织网层103和绝缘层104剥掉一段露出塑料层102，把接头组件106套在塑料层102上，使接头组件106上部插在塑料层102和编织网层103之间，并使用固定圈105套紧在绝缘层104外来把接头组件106与同轴电缆固定在一起，这样墙盒分频器专用测试线就制作完成了，虽然这样制作的墙盒分频器专用测试线比较简单，易于制作，但在使用时，由于墙盒分频器专用测试线露出铜编织网层103的一端要与墙盒分频器连接，并把铜编织网层103压紧在墙盒分频器的壳体上起到接地的作用，因此，每测试一个墙盒分频器，都要把铜编织网层103压紧在墙盒分频器的外壳上一次，这样测试几个墙盒分频器后，铜编织网层103就会被压坏，再测试下一个产品时，就要更换新的墙盒分频器专用测试线，在对大量的墙盒分频器的性能进行测试时，就要消耗掉大量的墙盒分频器专用测试线，造成检测墙盒分频器性能的成本较高。

发明内容：

本发明要解决的技术问题是，提供一种在检测墙盒分频器性能时，可以多次使用不易损坏的墙盒分频器专用测试线。

本发明的技术解决方案是，提供一种具有以下结构的墙盒分频器专用测试线：包括铜针以及包裹在铜针外的塑料层，其中，塑料层外套有铜管，铜管下端连接有接头。

本发明所述的墙盒分频器专用测试线，其中，铜管下端连接有接头具体可采用：铜管下端外圆面上设有凸肩，凸肩上设有凹槽，接头的上端卡在凹槽内。

采用以上结构后，与现有技术相比，本发明墙盒分频器专用测试线具有以下优点：与现有技术的墙盒分频器专用测试线的塑料层外包裹有铜编织网层不同，由于本发明墙盒分频器专用测试线的塑料层外套有铜管，换句话说，铜管的强度要比铜编织网层的强度大的多，因此，可以把铜管多次压紧在墙盒分频器的壳体上而不会损坏，与现有技术相比可以节省大量的墙盒分频器专用测试线，降低了检测墙盒分频器性能的成本。

附图说明：

图1是本发明墙盒分频器专用测试线的主视剖视结构示意图；

图2是本发明墙盒分频器专用测试线分别与墙盒分频器和连接接头连接后的主视结构示意图；

图3是图2的左视半剖结构示意图；

图4是现有技术墙盒分频器专用测试线的主视剖视结构示意图。

具体实施方式：

下面结合附图和具体实施方式对本发明墙盒分频器专用测试线作进一步说明：

如图1所示，在本具体实施方式中，本发明墙盒分频器专用测试线包括铜针1以及包裹在铜针1外的塑料层2，塑料层2外套有铜管3，铜管3下端外圆面上设有凸肩4，凸肩4上设有凹槽5，接头6的上端卡在凹槽5内。

本发明墙盒分频器专用测试线在使用时，如图2和图3所示，本发明墙盒分频器专用测试线的一端的铜针1插在墙盒分频器上的接触弹片7的内孔上，并旋紧墙盒分频器上的螺钉10使压线盖9把铜管3压紧在墙盒分频器的壳体11上，另一端通过连接接头8与测试仪器(图中未示出)连接，通过测试仪器来检测墙盒分频器的性能。

以上所述的实施例仅仅是对本发明的优选实施方式进行描述，并非对本发明的范围进行限定，在不脱离本发明设计精神的前提下，本领域普通技术人员对本发明的技术方案做出的各种变形和改进，均应落入本发明权利要求书确定的保护范围内。