[发明专利]太阳能电池片电致发光缺陷检测与IV检测一体化系统在审

专利信息
申请号: 201110104821.6 申请日: 2011-04-26
公开(公告)号: CN102253046A 公开(公告)日: 2011-11-23
发明(设计)人: 梅书刚;刘长清;谭华强;杨广;裴世铀 申请(专利权)人: 3i系统公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01M11/02
代理公司: 广州新诺专利商标事务所有限公司 44100 代理人: 华辉;周端仪
地址: 英国英属开曼*** 国省代码: 英国;GB
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摘要:
搜索关键词: 太阳能电池 电致发光 缺陷 检测 iv 一体化 系统
【说明书】:

技术领域

发明属于检测系统领域,具体的说,涉及一种可应用于太阳能电池片的EL缺陷检测和IV检测的一体化系统。

背景技术

EL检测系统,是根据电致发光原理,采集太阳能电池荧光信号并影摄成像,通过影摄图像来检测太阳能电池缺陷,判断电池片的质量,能检测出太阳能电池片的裂纹、黑芯、污染等缺陷。

IV检测系统,是通过太阳光模拟器发出的光照在电池片上,使电池片产生电流电压等信号,然后由数据处理系统进行数据采集和处理,能检测出太阳能电池片的转换效率、填充因子、并联电阻、短路电流以及开路电压等重要的光电性能参数,从而为做发电组件提供依据。

IV检测系统需要用探针夹住太阳能电池片的主栅线以便采集所需信号,EL检测系统也需要用探针夹住太阳能电池片的主栅线,以向电池片加电。探针在夹住太阳能电池片的过程中,会对电池片产生一定程度的损坏,增加了破损率。而且现有的太阳能电池片检测设备,都是分别进行IV检测和EL缺陷检测,这样需要用探针对电池片夹两次,这就会对电池片产生更大的损伤,检测的效率也会很低。

在接触式检测过程中,被检测样品的破损率是衡量一个检测系统的最重要的指标之一,尽量降低被检测样品的破损率,是检测系统必须具备的品质。在EL检测和IV检测过程中,减少探针的夹片次数,无疑会在一定程度上减小破损率,也能提高电池片的质量。

图1为现有的IV光电性能检测系统,包括太阳光模拟器1,探针架5和IV数据处理器8。其中,探针通过导线7与IV数据处理器8相连,检测时,探针6上下夹住电池片4的主栅线,由脉冲氙灯2发出模拟太阳光束3,照到电池片电池片4的表面上,电池片4产生的电信号通过探针6以及导线7传输到IV数据处理器8中,由处理器8得到电池片4的相关光电性能参数。

图2为现有的EL缺陷检测系统,包括CCD相机9,可编程电源10,图像处理单元17和探针架5。检测时,探针6上下夹住电池片4的主栅线,可编程电源通过导线7给电池片4加电,由CCD相机9收集电池片4发出的光束11然后成像,与CCD相机9相连的图像处理单元17可以得到电池片4的各种缺陷,如黑芯、黑边和裂纹等。

图3A是探针架的主视图,图3B是探针架的俯视图,太阳能电池片4一般是很薄、很脆弱,很容易发生破损或者碎片。从图3A可以看出,探针每夹一次电池片4,必然给电池片4带来一定的受力,使得电池片4产生一定程度的破损。所以一个电池片4经过图1所示的IV检测,再经过图2所示的EL检测,探针夹两次电池片4,增加了电池片4破损的风险。

发明内容

本发明克服了现有技术中的缺点,提供了一种太阳能电池片电致发光缺陷检测与IV检测一体化系统,其将EL检测和IV检测整合起来,这种检测系统只需要用探针夹一次电池片,减少了太阳能电池片的破损率,而且为了提高生产效率,减少IV检测和EL检测的时间,并且实现了快速的检测转换。

为了解决上述技术问题,本发明是通过以下技术方案实现的:

一种太阳能电池片电致发光缺陷检测与IV检测一体化系统,包括

用于固定电池片的探针夹持机构;

IV检测系统,包括设于探针夹持机构上方、用于IV检测的照明系统,与探针夹持机构连接的IV数据处理器;

EL检测系统,包括成像系统以及与探针夹持机构连接的电源;

电路转换装置,与探针夹持机构连接,用于切换IV检测系统和EL检测系统。

进一步,所述电路转换装置包括设于所述探针夹持机构和IV数据处理器之间的第一继电器开关,以及设于所述探针夹持机构和上述电源之间的第二继电器开关。

进一步,所述成像系统包括位于探针夹持机构侧上方的相机和反射镜。

进一步,所述成像系统包括相机以及和相机连接的机械推杆装置。

进一步,所述成像系统包括位于探针夹持机构侧上方的相机,所述探针夹持机构为可旋转设置。

进一步,所述探针夹持机构以一端为支点旋转。

进一步,所述探针夹持机构和照明系统之间设有低通滤光片,所述成像系统包括位于探针夹持机构侧上方、对应所述低通滤光片设置的相机。

进一步,所述照明系统为太阳光模拟器。

进一步,所述太阳光模拟器包括脉冲氙灯。

进一步,所述电源为可编程电源。

与现有技术相比,本发明的有益效果是:

本发明通过一电路转换装置将EL缺陷检测和IV检测整合成一个系统,减少了探针夹电池片的次数,具有检测效率高和破损率低的优点。

附图说明

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