[发明专利]光盘翘曲测试装置和测试方法

权利要求书

1.一种光盘翘曲测试装置，其特征在于该装置由照明光源(1)、反射镜(2)、透明平台(3)、CCD图像传感器(4)和信号处理单元(5)构成，上述元部件的位置关系如下：

在所述照明光源(1)发出的光束方向设置所述的反射镜(2)，该反射镜(2)与所述光束成45°；在所述的反射镜(2)的反射光束前进方向依次设置所述透明平台(3)和所述CCD图像传感器(4)，所述的反射光束垂直所述的透明平台(3)和CCD图像传感器(4)，该CCD图像传感器(4)的输出端与所述的信号处理单元(5)的输入端相连，所述的透明平台(3)由一块长方体平整的玻璃片构成，该玻璃片的平整度远高于待测光盘(6)翘曲的数量级，供待测光盘(6)置放。

2.根据权利要求1所述的光盘非对称性的测试装置，其特征在于所述的照明光源(1)是钠光灯。

3.利用权利要求1所述的光盘翘曲测试装置进行光盘翘曲的测量方法，其特征在于该方法包括如下步骤：

①选择测量点：在待测光盘上划分N个等间距同心圆，所有同心圆的圆心与所述的待测光盘(6)圆心重合，这N个同心圆的半径由内到外分别为R₁，R₂......R_N-1，R_N；从所述待测光盘(6)的圆心引出M条等夹角的半径，每两条半径之间的夹角为1/M*360度；每条引出的半径与所有的同心圆有N个交点，共形成M*N个交点，即M*N个测试点，

按照顺时针方向将每条半径依次编号为1到M，按照从内到外将同心圆依次编号为1到N，由半径i和同心圆j的交点定义为测试点(i，j)，该测试点(i，j)的翘曲定义为α_(i，j)；，其中i的取值范围为：1≤i≤M，j的取值范围为：1≤j≤N；

向所述的信号处理单元(5)输入M和N具体数值，设定光盘翘曲的阈值α_yu；

②首先将待测光盘(6)置于所述的透明平台(3)上；

③打开所述照明光源(1)，该照明光源(1)发出的光束经所述的反射镜(2)反射后形成的反射光束垂直地照射所述的待测光盘(6)，调整该待测光盘(6)的位置，使待测光盘(6)置于所述的反射光束中，所述的待测光盘(6)产生的牛顿环图像被所述的CCD图像传感器(4)接收并输入所述的信号处理单元(5)；

④所述的信号处理单元(5)对所选定的测试点(i，j)的翘曲按下列公式进行计算并存入数据库中：

α_(i，j)＝Tanα_(i，j)＝λ*(T_(i，j+1)-T_(i，j-1))/(2*(R_j+1-R_j-1))；

其中：λ为钠光灯波长589.3±0.2nm，T_(i，j+1)是测量点(i，j+1)对应的牛顿环环数，T_(i，j-1)是测量点(i，j-1)对应的牛顿环环数，R_j+1是第j+1牛顿环的半径，R_j-1是第j-1牛顿环的半径；j＝0的圆为光盘中间的通孔，j＝M+1的圆为光盘本身，即T_(i，0)是半径i与光盘通孔交点处对应的牛顿环环数，R₀是光盘通孔的半径，T_(i，M+1)是半径i与光盘盘片交点处对应的牛顿换环数，R_M+1是光盘的半径。

⑤所述的信号处理单元(5)比较所有的α_(i，j)，获得一个最大值α_max；

⑥所述的信号处理单元(5)将α_max与光盘翘曲的阈值α_yu进行比较：

当α_max＞α_yu，则光盘不合格；

当α_max≤α_yu，则光盘合格。

4.根据权利要求3所述的光盘翘曲测试装置进行光盘翘曲的测量方法，其特征在于所述的信号处理单元(5)是计算机。