[发明专利]发光元件的测试系统以及测试发光元件的方法

说明书

技术领域

本发明关于一种测试系统以及测试方法，尤其是关于发光元件的测试系统以及测试发光元件的方法。

背景技术

发光元件是用以产生光，并应用于各种电子产品上而作为其电子产品的指示灯。最常见的发光元件是发光二极管(Light Emitter Diode，LED)，发光二极管具有体积小且低耗电的优点，因此发光二极管日益被广泛应用。

一般而言，发光二极管是被设置于电路板上，且与电路板上的电路连接而得以产生光束，其中电路板上的电路可经过特殊设计而使发光二极管可产生不同颜色的光束或以不同频率产生光束。因此可知，发光二极管被设置于电路板上之后，设置有发光二极管的电路板再被安装于各种电子产品上。

发光二极管于制造完成之后，必须经过测试以确保发光二极管是否可正常运行。根据上述可知，于发光二极管的测试过程中，发光二极管必须设置于电路板上才得以作动，否则，发光二极管必须额外连接于一驱动电路而可被驱动。一般，现有发光二极管的测试过程是藉由测试人员以手动驱动发光二极管，使其产生光束，同时，测试人员以肉眼观察该发光二极管是否正常发光而判断发光二极管是否可正常运行，其为发光二极管的测试过程。然而，测试人员经过长时间的测试之后，测试人员的眼睛因长时间聚焦于发光二极管的光束上，故容易产生眩光，因此很容易将未发光的发光二极管判断为发光而造成误判，使得发光二极管的测试过程不够准确。再者，以人力方式进行测试的速度较慢，且以人力方式进行测试的准确度已不符现代化厂房的标准。因此，需要一种不需利用人力的发光元件的测试系统以及测试发光元件的方法。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术存在的上述不足，提供一种不需利用人力的发光元件的测试系统以及测试发光元件的方法。

本发明要解决的另一技术问题在于，针对现有技术存在的上述不足，提供一种降低误判机率的发光元件的测试系统以及测试发光元件的方法。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是提供一种发光元件的测试系统，用以测试设置于一电路板上的一发光元件，该发光元件的测试系统包括电脑主机以及测试座：其中，该电脑主机用以输出该发光元件的测试结果；该测试座连接于该电脑主机，用以测试该发光元件，该测试座包括第一遮光罩、第一感光电路、第二遮光罩、第二感光电路以及判断电路，该第一遮光罩用以覆盖于该电路板上的一无发光元件区域；该第一感光电路具有第一感光元件，该第一感光元件位于该第一遮光罩内，该第一感光电路用以根据该第一感光元件所侦测的该无发光元件区域的亮度而产生一参考电压；该第二遮光罩用以覆盖于该发光元件；该第二感光电路具有第二感光元件，该第二感光元件位于该第二遮光罩内，该第二感光电路用以根据该第二感光元件所侦测的该发光元件的亮度而产生测试电压；该判断电路，分别连接于该第一感光电路、该第二感光电路以及该电脑主机，用以判断该测试电压是否大于该参考电压而决定该发光元件是否通过测试。

较佳地，该判断电路包括比较单元以及控制单元，该比较单元连接于该第一感光电路以及该第二感光电路，用以比较该测试电压与该参考电压；其中当该第一感光电路以及该第二感光电路以一正逻辑连接方式连接于该比较单元，且根据被驱动的该发光元件而获得的该测试电压大于该参考电压时，该比较单元输出高逻辑准位信号，而当该测试电压不大于该参考电压时，该比较单元输出低逻辑准位信号；或当该第一感光电路以及该第二感光电路以一负逻辑连接方式连接于该比较单元，且该测试电压小于该参考电压时，该比较单元输出该高逻辑准位信号，而该测试电压不小于该参考电压时，该比较单元输出该低逻辑准位信号；该控制单元连接于该比较单元以及该电脑主机，用以接收该高逻辑准位信号或接收该低逻辑准位信号，并于接收到该低逻辑准位时产生测试失败信号至该电脑主机。