[发明专利]荧光光纤测温光学系统

权利要求书

1.一种荧光光纤测温光学系统，其包括：激励光源(600)、光纤(500)和光电探测单元(100)；其特征在于，该系统还包括：双包层光纤(300)、荧光探头(200)和光纤耦合器(400)；

所述荧光探头(200)设置在所述双包层光纤(300)的第一端；

所述激励光源(600)设置在所述双包层光纤(300)的第二端一侧，用于发射激励光，并将所述激励光耦合进所述双包层光纤(300)；

所述双包层光纤(300)通过所述光纤耦合器(400)与所述光纤(500)的第一端相连；

所述光电探测单元(100)与所述光纤(500)的第二端相连。

2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述双包层光纤(300)包括单模芯子(301)，包围所述单模芯子(301)的内包层(302)，以及包围所述内包层(302)的外包层(303)。

3.如权利要求2所述的系统，其特征在于，所述单模芯子(301)直径小于10微米，所述内包层(302)为纯石英，直径为125微米，所述外包层(303)为低折射率聚合物涂覆层，直径小于250微米。

4.如权利要求2所述的系统，其特征在于，所述荧光探头(200)包括：设置在所述单模芯子(301)端部的荧光物质(201)，套接在部分所述内包层(302)外部的石英管(202)，以及与所述石英管(202)端部相连接的第一滤波片(203)，所述荧光物质(201)位于所述石英管(202)和所述第一滤波片(203)所围腔室内。

5.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述光纤耦合器(400)通过对所述双包层光纤(300)和光纤(500)熔融拉锥或者侧面研磨粘结的方式制作；所述光纤(500)为大芯径多模光纤。

6.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述光电探测单元(100)包括光电探测器(101)和第二滤波片(102)。

7.如权利要求6所述的系统，其特征在于，所述第二滤波片(102)为带通滤波片。

8.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述激励光源(600)包括：

激光器(601)，设置在所述双包层光纤(300)的第二端一侧，用于发射激励光；

耦合透镜(602)，设置在所述激光器(601)与所述双包层光纤(300)的第二端之间，用于将所述激励光耦合进所述双包层光纤(300)。

9.如权利要求8所述的系统，其特征在于，所述激光器(700)为能够发射周期性方波形光脉冲的半导体激光器。

10.如权利要求8所述的荧光测温光学系统，其特征在于，所述耦合透镜(600)为Grin透镜或者C透镜。