[发明专利]一种集成电路测试分选机的分粒结构有效
申请号: | 201110111304.1 | 申请日: | 2011-04-28 |
公开(公告)号: | CN102259099A | 公开(公告)日: | 2011-11-30 |
发明(设计)人: | 韩笑 | 申请(专利权)人: | 杭州长川科技有限公司 |
主分类号: | B07C5/36 | 分类号: | B07C5/36 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310052 浙江省杭州市滨江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 集成电路 测试 分选 结构 | ||
1.一种集成电路测试分选机的分粒机构,它至少包括有一个电路流道、一个气缸缸体,作用于所述电路流道和气缸的前挡杆和后挡杆,所述的前挡杆连接L型连接件,所述L型连接件通过螺丝固定在气缸轴上,所述的气缸轴设置于气缸缸体内部;所述的前挡杆和后挡杆上设置有前支座和后支座,所述的前挡杆和后挡杆之间设置有光轴和光轴槽;所述前挡杆上设置有螺纹孔,通过该螺纹孔用螺丝将分粒压块固定在前挡杆上。
2.根据权利要求1所述的集成电路测试分选机的分粒机构,其特征在于所述的粒压块下部设置有斜贯通孔,该斜贯通孔内设置有橡胶条。
3.根据权利要求1所述的集成电路测试分选机的分粒机构,其特征在于所述的前挡杆通过挡杆销固定在前支座上。
4.根据权利要求1所述的集成电路测试分选机的分粒机构,其特征在于所述的后挡杆通过挡杆销固定在后支座上。
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