[发明专利]一种双光路泄漏电流光纤传感器装置无效

专利信息
申请号: 201110111589.9 申请日: 2011-04-29
公开(公告)号: CN102156214A 公开(公告)日: 2011-08-17
发明(设计)人: 姚陈果;王建;李成祥;米彦;胡建林;蒋兴良;孙才新 申请(专利权)人: 重庆大学
主分类号: G01R19/00 分类号: G01R19/00;G01R31/02;G01R15/24;G01R15/22
代理公司: 重庆大学专利中心 50201 代理人: 胡正顺
地址: 400044 *** 国省代码: 重庆;85
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摘要:
搜索关键词: 一种 双光路 泄漏 电流 光纤 传感器 装置
【权利要求书】:

1.一种双光路泄漏电流光纤传感器装置,主要包括固定支架、传感器头(1)、光纤(2)、转换器(3)、调制器(4)、采集卡和计算机,其特征是:

所述的传感器头(1)由两个发光二极管LED1与LED2以及两个保护电路构成,所述的两个发光二极管LED1和LED2的同极性端口串联,所述的每个保护电路由一个导通二极管D、一个稳压二极管VSD和一个放电管GDT并联构成,导通二极管D与发光二极管LED反极性并联,稳压二极管VSD与发光二极管LED同极性并联,并与放电管GDT并联,所述的两个发光二极管LED1和LED2及保护电路封装在传感器头(1)的外壳中,两个发光二极管LED1和LED2分别通过两个固定在传感器头(1)的外壳的耦合器接口分别与两根光纤(2)一端的耦合器接头连接,所述的两根光纤(2)另一端的耦合器接头分别与转换器(3)上的两个耦合器接口相连;

所述的转换器(3)为由两个光电探测器CA1和CA2与一个常规的差分比较电路DA构成的集成印刷电路板,所述的每个光电探测器CA1或CA2均由一个硅光电二极管SPD1或SPD2和一个常规运算放大器A1或A2组成负反馈运算放大电路,即:每个硅光电二极管SPD1或SPD2的负极先串联电容C1或C2后,再与运算放大器A1或A2的负极输入端相连,两个硅光电二极管SPD1与SPD2的正极和运算放大器A1和A2的正极输入端分别接地,运算放大器A1或A2的负极输入端先串联反馈电阻Rf1或Rf2后再与其输出端连接而组合成一个负反馈的运算放大电路,所述的两个硅光电二极管SPD1和SPD2分别装设在前述的两根光纤(2)另一端的两个耦合器接口处,所述的两个负反馈运算放大电路的输出端,分别串联电阻R1、R2后再分别与差分比较电路DA的第一级运算放大器A3和第二级运算放大器A4的正极输入端连接;

所述的转换器(3)的差分比较电路DA由两级常规的运算放大器A3和A4构成,第一级运算放大器A3的负极输入端通过电阻R3接地,第一级运算放大器A3的输出端信号通过电阻R4连接到第二级运算放大器A4的输入端,第一、二级运算放大器的输出端分别通过反馈电阻Rf2和Rf4后再分别与其负极输入端连接,形成负反馈运算电路,第二级运算放大器的输出端通过电缆(5)与调制器(4)的后置放大器的输入端连接;

所述的调制器(4)为常规的后置放大器A和二阶滤波器F串联组成,调制器(4)的输出端通过电缆(5)与采集卡连接,采集卡再通过信号线与计算机连接。

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