[发明专利]一种人工电磁材料单元的试验点选取方法及装置有效
申请号: | 201110111686.8 | 申请日: | 2011-04-30 |
公开(公告)号: | CN102890203A | 公开(公告)日: | 2013-01-23 |
发明(设计)人: | 刘若鹏;易翔;栾琳;刘斌 | 申请(专利权)人: | 深圳光启高等理工研究院;深圳光启创新技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 人工 电磁 材料 单元 试验 选取 方法 装置 | ||
1.一种人工电磁材料单元的试验点选取方法,其特征在于,包括:
获取待测人工电磁材料单元的几何参数和所述几何参数的采样样本点个数;
根据所述几何参数和采样样本点个数,通过好格子点法构造均匀设计表;
选取所述均匀设计表指示的人工电磁材料单元的试验点。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述选取所述均匀设计表指示的人工电磁材料单元的试验点具体包括:
运用中心化L2偏差法计算均匀设计表的均匀性;
在所述均匀设计表中选取均匀性最大的矩阵所指示的人工电磁材料单元的试验点。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述几何参数指示人工电磁材料单元的形状或大小。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述几何参数至少有两个取值水平。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述人工电磁材料单元至少包括两个参数。
6.一种人工电磁材料单元的试验点选取装置,其特征在于,包括:
数据获取模块,用于获取待测人工电磁材料单元的几何参数和所述几何参数的采样样本点个数;
列表构造模块,用于根据所述几何参数和采样样本点个数,通过好格子点法构造均匀设计表;
数据选取模块,用于选取所述均匀设计表指示的人工电磁材料单元的试验点。
7.如权利要求6所述的装置,其特征在于,所述数据选取模块具体包括:
均匀计算单元,用于运用中心化L2偏差计算均匀设计表的均匀性;
数据选取单元,用于在所述均匀设计表中选取均匀性最大的矩阵所指示的人工电磁材料单元的试验点。
8.如权利要求6所述的装置,其特征在于,所述参数指示人工电磁材料单元的形状或大小。
9.如权利要求6所述的装置,其特征在于,所述参数至少有两个取值水平。
10.如权利要求6所述的装置,其特征在于,所述人工电磁材料单元至少包括两个参数。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳光启高等理工研究院;深圳光启创新技术有限公司,未经深圳光启高等理工研究院;深圳光启创新技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110111686.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种中断请求的处理方法
- 下一篇:常驻进程管理通用平台及方法