[发明专利]使用激光束来计数小电子元件的设备及方法

权利要求书

1.一种使用激光束来计数小电子元件的设备，所述设备包括：

供给室，供给所述小电子元件；

光穿透管，连接至所述供给室的下部，并形成所述小电子元件下落所经过的路径；

激光发射器，发射所述激光束；

光学器件，将由所述激光发射器发射的所述激光束转换成水平式光，并将转换而成的水平式光传输至所述光穿透管侧；

光电探测器，探测由经过所述光穿透管的所述小电子元件散射的光。

2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述光学器件包括：光束扩展器，扩展由所述激光发射器发射的所述激光束；以及柱面透镜，将由所述光束扩展器扩展的所述激光束转换成所述水平式光，并将转换而成的水平式光传输至所述光穿透管侧。

3.根据权利要求2所述的设备，其中，所述光学器件进一步包括镜子，所述镜子朝着所述光束扩展器改变由所述激光发射器发射的所述激光束的方向，由此朝着所述光束扩展器反射所述激光束。

4.根据权利要求1所述的设备，其中，所述光电探测器设置在所述光学器件侧，并探测由所述小电子元件散射的光。

5.根据权利要求1所述的设备，其中，所述光穿透管具有与所述水平式光的前进方向垂直的或从所述水平式光的前进方向倾斜的多根管道，并且所述多根管道中的每根都设置成不妨碍所述水平式光朝着邻近管道的前进，且设置成不妨碍由经过每根所述管道的所述小电子元件散射的散射光朝着所述光电探测器的前进。

6.根据权利要求5所述的设备，其中，所述光穿透管进一步包括形成在所述光穿透管的上部上的开启控制器，所述开启控制器控制所述管道的开启，以将所述小电子元件从所述供给室一个接一个地引入到每根管道中。

7.根据权利要求1所述的设备，其中，所述供给室包括离子发生器，所述离子发生器防止或去除所述小电子元件的静电。

8.根据权利要求1所述的设备，进一步包括吸气装置，所述吸气装置连接至所述光穿透管，以从所述路径中吸入空气，从而使所述小电子元件平稳地进行落下。

9.根据权利要求1所述的设备，进一步包括接收室，所述接收室安装在所述光穿透管下方，并接收下落的小电子元件。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的设备，进一步包括处理器单元，所述处理器单元使用由所述光电探测器探测到的散射光来计数所述小电子元件。

11.一种使用激光束来计数小电子元件的方法，所述方法包括：

(a)允许所述小电子元件从供给室下落至光穿透管；

(b)通过光学器件将由激光发射器发射的所述激光束转换成水平式光，并将转换而成的水平式光传输至所述光穿透管侧；以及

(c)通过光电探测器探测由经过所述光穿透管的所述小电子元件散射的光。

12.根据权利要求11所述的方法，其中，步骤(b)包括：

(b-1)光束扩展步骤，扩展由所述激光发射器发射的所述激光束；

(b-2)光转换步骤，将扩展的激光束转换成所述水平式光，并将转换而成的水平式光传输至所述光穿透管侧。

13.根据权利要求11所述的方法，其中，在步骤(c)，将所述光电探测器设置在所述光学器件侧，并探测由所述小电子元件散射的光。

14.根据权利要求11至13中任一项所述的方法，进一步包括(d)使用在步骤(c)探测到的散射光来计数所述小电子元件。