[发明专利]一种提高EEPROM良率和读取可靠性的方法

权利要求书

1.一种提高EEPROM良率和读取可靠性的方法，其特征在于，其包括如下步骤：

1)在所测试晶元的不同位置，选取不同分组，检测各分组EEPROM单元在存储“0”及“1”时的支路电流，并以测得的上述支路电流值实际分布情况作为参考确定参考单元电流区间；

2)选取参考单元电流区间的最小值采用电流比较法来测试EEPROM的“1”状态，选取参考单元电流区间的最大值采用电流比较法来测试EEPROM的“0”状态；

3)以参考单元电流区间最大值和最小值的中间值作为EEPROM的参考单元电流的出厂设定值，对步骤2)中判定有效的EEPROM分别采用电流比较法对该EEPROM的“1”状态和“0”状态进行测试来作为最终的判定结果。

2.根据权利要求1所述的一种提高EEPROM良率和读取可靠性的方法，其特征在于：在步骤2)、3)中的电流比较法采用灵敏放大器进行比较，所述灵敏放大器包括要检测的EEPROM、参考单元、第一电流源、第二电流源及比较放大器，第一电流源分别与EEPROM及比较放大器的同相端连接，所述第二电流源分别与参考单元及比较放大器的反相端连接，根据比较放大器输出结果即可判定要检测的EEPROM单元是否有效。

3.根据权利要求2所述的一种提高EEPROM良率和读取可靠性的方法，其特征在于：所述参考单元的电流值可调节。