[发明专利]光学式检测装置、显示装置及电子设备有效

专利信息
申请号: 201110113764.8 申请日: 2011-04-28
公开(公告)号: CN102270066A 公开(公告)日: 2011-12-07
发明(设计)人: 大西康宪 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: G06F3/042 分类号: G06F3/042
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李伟;阎文君
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光学 检测 装置 显示装置 电子设备
【说明书】:

技术领域

本发明涉及光学式检测装置、显示装置及电子设备等。

背景技术

近年来,在移动电话机、个人计算机、汽车导航装置、售票机、银行的终端等电子设备中,采用在显示部的前面配置有触摸面板的附带位置检测功能的显示装置。根据该显示装置,用户可以边参照显示部中所显示的图像,边点击显示图像的图标等来输入信息。作为由这样的触摸面板进行位置检测方式,众所周知有例如电阻膜方式或静电容量方式等。

另一方面,在投射型显示装置(投影仪)或数字标牌用显示装置中,与移动电话机或个人计算机的显示装置相比,其显示区域大。因此,这些显示装置中,难以使用上述电阻膜方式或静电容量方式的触摸面板实现位置检测。

另外,作为投射型显示装置用的位置检测装置的以往技术,众所周知有例如专利文献1、2中公开的技术。可是,在该位置检测装置中,具有系统大等问题。

专利文献1:日本特开平11-345085

专利文献2:日本特开2001-142643

发明内容

根据本发明的几个实施方式,能够提供一种可以在大范围内检测对象物的光学式检测装置、显示装置和电子设备等。

本发明的实施方式一的光学式检测装置,其包含:光源部,其射出光源光;曲线状的光引导器,其包括以下的面:位于上述光引导器的端部并被射入光源光的光入射面以及射出自上述光入射面射入的上述光源光的凸面;照射方向设定部,其接收自上述光引导器的上述凸面射出的上述光源光,将照射光的照射方向设定在上述凸面的法线方向;受光部,其接收上述照射光被对象物反射的反射光;及检测部,其根据上述受光部的接收结果,至少检测上述对象物所位于的方向。

根据本发明的实施方式一,来自光源部的光源光沿着光引导器曲线形状的导光路径进行传导。并且从光引导器的外周侧射出的光源光作为从光引导器的内周侧向外周侧方向的照射光射出。并且如果该射出光被对象物反射,其反射光被受光部接收,根据接收结果检测对象物的方向等。根据这样构成的光学式检测装置,照射光从光引导器的内周侧向外周侧放射状射出,通过其反射光来检测对象物,因此能够实现在大范围内检测对象物的光学式检测装置。

另外,在本发明的实施方式一中,也可以包括射出第二光源光的第二光源部,通过上述光源部对上述光引导器的一端侧的光入射面射出上述光源光,在上述对象物的检测区域形成第一照射光强度分布,通过上述第二光源部对上述光引导器的另一端侧的光入射面射出上述第二光源光,在上述检测区域形成第二照射光强度分布,该第二照射光强度分布的强度分布与上述第一照射强度分布不同。

这样,例如使用一个光引导器就能够形成第一、第二照射光强度分布,因此能够实现装置的小型化等。另外,根据形成第一照射光强度分布时的接收结果和形成第二照射光强度分布时的接收结果能够检测到对象物,因此可以进行降低环境光等干扰光的影响的检测,能够提高检测精度等。

另外,在本发明的实施方式一中,也可以包括第二光源部,其射出第二光源光;和曲线形状的第二光引导器,其将来自上述第二光源部的上述第二光源光沿着曲线状导光路径传导,通过上述光源部对上述光引导器的一端侧的光入射面射出上述光源光,在上述对象物的检测区域形成第一照射光强度分布,通过上述第二光源部对上述第二光引导器的另一端侧的光入射面射出上述第二光源光,在上述检测区域上形成第二照射光强度分布,该第二照射光强度分布的强度分布与上述第一照射强度分布不同。

这样使用两个光引导器,能够简化光输出特性调整等的光学设计。另外,根据形成第一照射光强度分布时的接收结果和形成第二照射光强度分布时的接收结果能够检测到对象物,因此能够进行降低环境光等干扰光影响的检测,提高检测精度等。

另外,在本发明的实施方式一中,上述光引导器和上述第二光引导器,也可以在如下的方向上排列配置,该方向是与沿着排列了上述光引导器和上述照射方向设定部的排列方向的面交叉的方向。

这样,能够紧凑地收纳光引导器和第二光引导器,因此能够实现装置的小型化等。

另外,在本发明的实施方式一中,上述第一照射光强度分布还可以是照射光的强度随着从上述光引导器的一端部朝向另一端部而降低的强度分布,上述第二照射光强度分布还可以是照射光的强度随着从上述光引导器的另一端部朝向一端部而降低的强度分布。

这样,由于能形成强度随照射方向而不同的照射光强度分布,利用该强度分布,通过简单的处理就可以检测到对象物。

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