[发明专利]脉冲激光装置、太赫兹测量装置和太赫兹层析装置有效
申请号: | 201110114528.8 | 申请日: | 2009-01-23 |
公开(公告)号: | CN102208734A | 公开(公告)日: | 2011-10-05 |
发明(设计)人: | 尾内敏彦;片桐崇史;古泽健太郎 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | H01S3/00 | 分类号: | H01S3/00;G01N21/35 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 卜荣丽 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 脉冲 激光 装置 赫兹 测量 层析 | ||
1.一种脉冲激光装置,该脉冲激光装置包括:
被配置为对来自激光器的光脉冲进行放大和啁啾的光纤放大器;和
被配置为压缩来自光纤放大器的光脉冲的脉冲宽度的脉冲压缩器,
其中,光纤放大器包含在来自激光器的光脉冲的波长谱的中心波长处表现出正常色散的掺杂稀土的光纤,
其中,掺杂稀土的光纤对光脉冲进行啁啾,以使得光脉冲在比掺杂稀土的光纤的零色散波长更长的波长区域内具有能量部分,并且
其中,光纤放大器被配置为对所述能量部分给予损失。
2.根据权利要求1的脉冲激光装置,其中,所述光纤放大器包括被配置为对所述能量部分给予损失的波长滤波器。
3.根据权利要求1的脉冲激光装置,其中,所述掺杂稀土的光纤至少在其一部分中具有弯曲部分,以使得掺杂稀土的光纤对所述能量部分给予损失。
4.根据权利要求1的脉冲激光装置,其中,所述掺杂稀土的光纤至少在其一部分中具有W状断面折射率轮廓,以使得掺杂稀土的光纤对所述能量部分给予损失。
5.根据权利要求1的脉冲激光装置,其中,所述光纤放大器通过对于所述能量部分给予损失,抑制在光脉冲经由掺杂稀土的光纤传播的过程中产生的高阶非线性效应。
6.根据权利要求1的脉冲激光装置,其中,由脉冲激光装置产生的光脉冲具有20fs或更小的脉冲宽度和200mW或更大的平均输出。
7.根据权利要求5的脉冲激光装置,其中,高阶非线性效应是四波混合现象。
8.根据权利要求5的脉冲激光装置,其中,高阶非线性效应是诱导的拉曼散射。
9.根据权利要求3的脉冲激光装置,其中,弯曲部分的曲率是可变的,并且,脉冲激光装置包括被配置为在监视波形的同时调整弯曲部分的曲率的单元。
10.一种太赫兹脉冲产生装置,包括:
光电导器件或非线性晶体;和
根据权利要求1的脉冲激光装置,
其中,通过将来自脉冲激光装置的激光束照射到光电导器件或非线性晶体,产生太赫兹脉冲。
11.一种太赫兹测量装置,包括:
根据权利要求1的脉冲激光装置;和
被配置为将脉冲激光装置的光学输出分成两个部分的分支单元,
其中,光学输出的一部分被照射到第一光电导器件或第一非线性晶体以产生太赫兹脉冲,并且,光学输出的另一部分被照射到第二光电导器件或第二非线性晶体,以使得第二光电导器件或第二非线性晶体作为检测器运行,由此根据泵浦-探测测量执行太赫兹时域谱分析。
12.根据权利要求11的太赫兹测量装置,其中,通过使从脉冲激光装置输出的激光束穿过高次谐波发生器并将已经穿过了高次谐波发生器的光视为照射光,获得被照射到第二光电导器件或第二非线性晶体的光。
13.一种太赫兹层析装置,其中,通过用根据权利要求11的太赫兹测量装置测量来自分析物的反射脉冲,获得分析物的内部层析图像数据,并且,基于获得的数据,内部层析图像被输出到输出单元。
14.一种太赫兹层析装置,其中,当通过用根据权利要求11的太赫兹测量装置测量来自分析物的反射脉冲,获得分析物的内部层析图像数据时,沿深度方向的分辨率为5μm或更小。
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