[发明专利]服从指数分布的电子产品可靠性预计模型修正方法

说明书

所属技术领域

本发明涉及一种电子产品的可靠性预计模型修正方法，具体说，涉及服从指数分布的电子产品可靠性预计模型修正方法，属于系统工程系统可靠性技术领域。

背景技术

近年来，我国电子产品得到了迅猛的发展。但就整体而言，国内电子产品的技术含量、可靠性等与国外同类先进产品仍然有一定的差距。电子产品可靠性的高低是由设计研制、生产制造、测试检验、使用维护等各阶段的工作质量决定的。要提高电子产品的可靠性，必须把握好设计、生产、管理等各个有关环节，掌握各个环节所涉及的可靠性设计、可靠性预计、可靠性试验评价等关键可靠性技术。

电子产品是由一系列电子元器件组成，电子元器件的失效会直接导致产品不能运行。随着现代电子工业的发展，电子产品逐渐向着高性能、高精度和高集成度的方向发展，其功能越来越多，自身结构越来越复杂，使用的电子元器件越来越多，引发的故障也随之增多。

可靠性预计是在设计阶段对系统可靠性进行定量的估计，是根据产品的历史可靠性数据、产品的构成和结构特点、产品的工作环境等因素估计组成产品的部件及产品可靠性。目前，电子产品的可靠性预计技术已经趋于成熟。但是传统的可靠性预计方法往往不能反映出产品工作的实际情况，也不能满足生产和应用的需要。此外，传统的可靠性预计方法由于不考虑湿度应力而存在着较大的误差。因此，需要探索一种适用于服从指数分布的电子产品的可靠性预计模型修正方法。加速试验是在不引入新失效机理的前提下，通过采用加大应力(温度、湿度)的方法促使样品在短期内失效，以预测产品在正常工作条件或储存条件下的可靠性的试验。产品加速寿命试验的结果可以作为修正服从指数分布电子产品的可靠性预计模型的依据。

发明内容

本发明的目的是：提供一种服从指数分布的电子产品可靠性预计模型修正方法，能够准确且客观的对产品的可靠性预计模型做出修正。

本发明的技术方案：分析电子产品使用区域的气象信息，分别构造温度概率密度分布函数和湿度概率密度分布函数并求平均值；采用GJB299C-2006中应力分析法对产品进行可靠性预计，计算产品工作失效率的理论值；进行产品加速寿命试验；分析试验数据，计算产品工作失效率的试验值；比较上述两项结果，分析湿度应力产生的误差，对可靠性预计模型进行修正。

本发明一种服从指数分布的电子产品可靠性预计模型修正方法，其步骤如下：

步骤1，分析产品的使用区域并按省、直辖市、自治区进行划分；

步骤2，采集使用区域内各省、直辖市、自治区的历年气象信息，计算各地区温度应力和湿度应力的年平均值；

步骤3，对各地区温度应力、湿度应力的年平均值进行分组，分别绘制直方图，根据直方图的分布趋势，分别构造温度概率密度分布函数和湿度概率密度分布函数，求取使用区域温度应力和湿度应力的年平均值；

步骤4，在充分了解元器件信息的基础上，分析产品使用过程中所承受的各项应力；

步骤5，选择可靠性预计手册，确定各类元器件进行应力分析的模型，计算元器件工作失效率；

步骤6，绘制产品任务可靠性框图，综合计算产品工作失效率；

步骤7，进行恒应力、定时截尾加速寿命试验，记录试验数据；

步骤8，计算试验条件下产品平均故障前时间，计算正常工作条件下产品平均故障前时间及工作失效率；

步骤9，比较可靠性预计和加速寿命试验得到的产品工作失效率，计算湿度应力产生的误差，提出可靠性预计修正模型。

其中，步骤1中所述的产品使用区域是指中国大陆所有的省、自治区、直辖市。

其中，步骤2所述的历年气象信息是指中国气象部门官方记录的近十年的累年各月平均温度、相对湿度。

其中，步骤2所述的年平均值是指累年各月平均温度、湿度的均值。

其中，步骤3中所述的直方图是指频数直方图。

其中，步骤3中所述的温度应力的年平均值是指使用区域的温度应力平均值，该值可以视为产品正常工作条件下的温度应力值。

其中，步骤3中所述的湿度应力的年平均值是指使用区域的湿度应力平均值，该值可以视为产品正常工作条件下的湿度应力值。

其中，步骤4中所述的元器件信息包括元器件的生产厂家、生产地、材料、质量等级、性能参数等。

其中，步骤4中所述的应力是指温度应力、电应力、震动应力等。

其中，步骤5中所述的可靠性预计手册是指最新版本的电子设备可靠性预计手册，对于国产产品一般常用GJB299C-2006《电子设备可靠性预计手册》。