[发明专利]基于谐振腔技术测试保偏光纤耦合器偏振消光比的装置及方法

权利要求书

1. 一种基于谐振腔技术测试保偏光纤耦合器偏振消光比装置，其特征在于包括温控面板(6)、光纤激光器(7)、第一隔离器(8)、15°熔接点(9)、光纤环形谐振腔(10)、第二隔离器(11)、光电探测器(12)和示波器(13)；光纤激光器(7)、第一隔离器(8)、15°熔接点(9)、光纤环形谐振腔(10)、第二隔离器(11)、光电探测器(12)和示波器(13)顺次连接；光纤环形谐振(10)置于温控面板(6)上。

2. 一种使用如权利要求1所述装置的基于谐振腔技术测试保偏光纤耦合器偏振消光比的方法，其特征在于它的步骤如下：

1) 保偏光纤耦合器的第二输入端口(3)和第二输出端口(4)经过0°熔接后构成环形谐振腔(10)，并至于温控面板(6)上，0°熔接点(5)距离保偏光纤耦合器耦合器的距离分别为L_R和L_L，并忽略腔中0°熔接点(5)的偏振轴角度对准误差，通过控制温控面板(6)的温度使保偏光纤的双折射率差保持ΔβL=2mπ，Δβ是x轴和y轴方向的传播常数差，L是光纤环的长度，m为整数；

2) 光纤激光器(7)输出的激光经过第一隔离器(8)后通过保偏光纤耦合器的第一输入端口(1)进入光纤环形谐振腔(10)，激光在保偏光纤耦合器的第一输出端口(2)输出，再经过第二隔离器(11)后由光电探测器(12)将光纤环形谐振腔(10)的输出激光信号转变成电信号，并通过示波器(13)观察输出的电信号，当温控面板(6)工作在使保偏光纤的双折射率差满足ΔβL=2mπ，并且光纤环形谐振腔(10)的两个本征偏振态对应的两个谐振谷重合时，对应的光纤环形谐振腔(10)的谐振点间距为保偏光纤耦合器偏振轴角度误差的两倍，即当ΔβL=2mπ时，两个本征偏振态谐振点间距表示为：

，

式中2ξ为两个本征偏振态的谐振点间距，θ_cr表示保偏光纤耦合器直通端口的偏振轴等效对准角度误差；

保偏光纤耦合器的偏振消光比的定义为沿传输轴方向的光强与转化到其他传输轴方向的光强之比，据此得到保偏光纤耦合器直通端口的偏振消光比：

。