[发明专利]导电云母粉密度阻值测量设备及其测量方法

权利要求书

1.导电云母粉密度阻值测量设备及其测量方法，本发明包括框架(1)、激光测距仪(2)、测试电极(3)、试样槽(4)、底座电极(5)、绝缘垫(6)、电子天平(7)、加载系统(8)、形变监测器(9)，其特征是：该导电云母粉密度阻值测量设备有一个矩形的一侧开口的钢制框架(1)，在框架(1)顶部，向下垂直设有一个加载端，该加载端内置激光测距仪(2)，且加载端的端头固定设有测试电极(3)；在框架(1)的底部，向上固定设有一个加载系统(8)，在加载系统(8)内部设有一个电子天平(7)，在加载系统(8)的顶部，向上固定设有一个矩形内凹的陶瓷试样槽(4)，该试样槽(4)底部顺序向上分别设有陶瓷绝缘垫(6)和底座电极(5)，所述测试电极(3)和底座电极(5)形成一个电极对；在试样槽(4)外侧，设置一个形变监测器(9)。

2.根据权利要求1所述的导电云母粉密度阻值测量设备及其测量方法，其测量方法特征是：(1)对试样槽进行注样，注样完毕后，电子天平进行测定待测试样质量。

(2)加载系统按照固定测试要求进行震动试样，使得待测样达到统一密度水平。

(3)通过激光测距仪，测量试样槽中试样基准高度，将位移量传至加载系统，使得加载系统获得位移记录起始点。

(4)参照第3步数据，加载系统以0.1mm/s速度对待测样进行加载。

(5)加载过程中，系统记录位移量、加载压强、电阻值、试样槽形变率以及加载时间等数据。

(6)系统通过位移量、形变监测器测量的试样槽形变率计算当前试样体积，结合质量数据、目数与当前电阻值，计算质量密度电阻率与体积密度电阻率。

(7)加载系统持续加载到试样槽形变系数最大值止自动结束测试过程。

(8)同时加载系统根据加载压强与试样槽形变率给出理论电阻率水平、实际应用最大电阻率水平和导电云母粉硬度系数。

(9)完成测试，系统给出报表，包含：质量密度电阻率，体积密度电阻率，工程可实现最小电阻率，该试样导电云母粉硬度系统。同时系统根据历史数据进行比对，将以上三个数据进行计算，给出产品质量偏差水平和偏差原因。