[发明专利]用于制备半导体器件的深结扩散方法有效
申请号: | 201110123196.X | 申请日: | 2011-05-13 |
公开(公告)号: | CN102184850A | 公开(公告)日: | 2011-09-14 |
发明(设计)人: | 高占成;徐爱民;顾标琴 | 申请(专利权)人: | 润奥电子(扬州)制造有限公司 |
主分类号: | H01L21/225 | 分类号: | H01L21/225 |
代理公司: | 扬州苏中专利事务所(普通合伙) 32222 | 代理人: | 孙忠明 |
地址: | 225006 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 制备 半导体器件 扩散 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种半导体器件制备过程中所采用的扩散方法,具体地,涉及涉及一种深结扩散方法,属于半导体器件制造技术领域。
背景技术
在半导体器件制备过程中,通常需要进行扩散工艺,一般而言,深结扩散是一种常用的工艺。
通常地,半导体器件的制备过程中采用镓扩散,镓扩散多采用氧化镓或硅镓粉作为扩散源,少数载流子寿命往往不能稳定,造成晶闸管少数载流子寿命低,从而引起晶闸管各项性能指标下降,及晶闸管功耗较大,效率降低。
鉴于现有技术的上述缺陷,需要设计一种新型的用于制备半导体器件的深结扩散方法。
发明内容
本发明的目的是提供一种用于制备半导体器件的深结扩散方法,以克服现有技术的上述缺陷,使得通过该深结扩散方法制备的半导体器件具有良好的性能和稳定的寿命。
上述目的通过如下技术方案实现:用于制备半导体器件的深结扩散方法,包括如下步骤:第一,在用作扩散源的氧化镓粉末中加入0.2-1.0g的氯化铵粉末,并放入陶瓷坩埚内;第二,将所述陶瓷坩埚和硅片一起装入石英管内,并向该石英管内冲入纯度≥99.999%的高纯氩气,然后进行所述石英管的闭管工序;第三,将所述石英管转移到扩散炉内加热以进行扩散。
选择地,冲入所述石英管内的高纯氩气的压力为12660-14000帕。
本发明的深结扩散方法,扩散工艺操作简便,材料成本低,适于大批量生产;扩散后硅片少子寿命高,扩散后表面状态良好,适合采用批量生产大功率高电压半导体器件,而且最终正向通态峰值压降低,产品参数一致性和动态性能好,成品合格率高。
具体实施方式
以下描述本发明用于制备半导体器件的深结扩散方法的具体实施方式。
本发明的深结扩散方法包括如下步骤:第一,在用作扩散源的氧化镓粉末中加入0.2-1.0g的氯化铵粉末,并放入陶瓷坩埚内;第二,将所述陶瓷坩埚和硅片一起装入石英管内,并向该石英管内冲入纯度≥99.999%的高纯氩气,然后进行封闭所述石英管的闭管工序;第三,将所述石英管转移到扩散炉内加热以进行扩散。
也就是说,本发明的上述深结扩散方法首先在作为扩散源的氧化镓粉末中加入0.2-1.0g的氯化铵粉末,放入陶瓷坩埚内;和硅片一起装入石英管内,冲入高纯氩气并进行闭管工序,再转移到扩散炉内进行扩散,这样,在高温下,氯化铵分解有氯气产生,氯气则能吸收任何的金属离子,从而减少硅片内部的金属杂质,提高硅片的纯度和少数载流子寿命。
本发明的深结扩散方法,扩散工艺操作简便,材料成本低,适于大批量生产;扩散后硅片少子寿命高,扩散后表面状态良好,适合采用批量生产大功率高电压半导体器件,而且最终正向通态峰值压降低,产品参数一致性和动态性能好,成品合格率高。
优选地,冲入所述石英管内的高纯氩气的压力为95-105托(压强单位,1托约为133.3223684帕),即约12660-14000帕。
当采用本发明的上述工艺制造半导体器件,例如半导体芯片时,该半导体芯片产品的电压性能优越。经过检测,该半导体芯片的通态压降可达到国际先进水平,并且产品的一致性良好。
在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征,可以通过任何合适的方式进行任意组合,其同样落入本发明所公开的范围之内。同时,本发明的各种不同的实施方式之间也可以进行任意组合,只要其不违背本发明的思想,其同样应当视为本发明所公开的内容。此外,本发明并不限于上述实施方式中的具体细节,在本发明的技术构思范围内,可以对本发明的技术方案进行多种简单变型,这些简单变型均属于本发明的保护范围。本发明的保护范围由权利要求限定。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于润奥电子(扬州)制造有限公司,未经润奥电子(扬州)制造有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110123196.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:梯级日光温室
- 下一篇:提高钛硅化物方块电阻的片上均匀性的方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造