[发明专利]一种利用地震数据确定品质因数的方法

说明书

技术领域

本发明涉及地球物理勘探技术，是一种利用地震数据确定品质因数的方法。

背景技术

在地震勘探采集设计中需要通过吸收衰减量来确定有效信号的期望频率，进而设计出合理的采集设计观测系统参数。吸收衰减量计算的精度将直接影响观测系统参数设计得是否合理，而地层吸收衰减量计算的核心内容就是品质因数的确定。

利用实际数据进行品质因数计算最常用的方法是谱比法，在谱比法中，首先在叠后剖面上提取两个到达时间为t₁和t₂的子波，求得它们的振幅谱A₁(f)和A₂(f)。在t₁和t₂之间地层的品质因数为Q，则有：

Q-1=ΔD(f)π(t2-t1)Δf---(1)]]>

其中：D(f)＝lnA₂(f)-lnA₁(f)；ΔD(f)/Δf为D(f)的斜率；f为频率。

由于谱比法在实际资料应用中需要提取较为精确的地震子波，而利用实际资料提取地震子波难度又很大，致使谱比法的计算结果误差比较大，稳定性较差，这大大限制了谱比法的实际应用。

发明内容

本发明目的在于利用实际地震数据提供一种提高品质因数计算精度和稳定性的方法。

本发明利用实际地震数据，通过交互拾取方法得到地层的品质因数，具体实现步骤为：

1)首先对采集的地震数据进行预处理，处理过程进行保幅，得到叠加剖面；

步骤1)所述的保幅是在地面地震数据上，包括进行球面扩散补偿、地表一致性振幅补偿、静校正、速度扫描、叠加处理，预处理中避免对数据进行反褶积、带通滤波和增益处理。

步骤1)所述的保幅处理在VSP(垂直地震剖面)数据上，除需进行和地面地震数据预处理中相同的保幅处理外，还需在叠前去除井筒波干扰。

2)计算均方根振幅，形成趋势线，对于地面地震数据采用一个CDP(共深度点)或多个CDP(共深度点)数据计算，在VSP(垂直地震剖面)走廊叠加剖面上采用一道进行计算；

步骤2)所述的均方根振幅A_rms由某一时间采样点上、下截取的时窗内数据计算得到，时窗宽度一般取50个采样点比较合适，计算公式为：