[发明专利]偏光膜卷材的品质判断系统及其方法

权利要求书

1.一种偏光膜卷材的品质判断系统，其特征在于，所述品质判断系统包括：

存储部，其存储从对偏光膜卷材进行缺陷检测的自动光学检测机得到的检测结果数据；

缺陷数据分析部，其根据包含于所述检测结果数据中的缺陷位置信息算出检测对象卷材的各单位区域的缺陷产生密度，并根据所述缺陷产生密度变为规定值以上的缺陷密度异常区域数算出所述检测对象卷材的缺陷密度异常指数；以及

卷材品质判断部，其在所述检测对象卷材的缺陷密度异常指数变为规定的允许值以上时，将所述检测对象卷材判断为不合格卷材。

2.根据权利要求1所述的偏光膜卷材的品质判断系统，其特征在于，

还包括将所述自动光学检测机的检测结果数据转换为通用格式的数据转换部，

所述缺陷数据分析部能够根据转换为所述通用格式的检测结果数据，进行数据分析。

3.根据权利要求1所述的偏光膜卷材的品质判断系统，其特征在于，

所述缺陷数据分析部，根据包含于所述检测结果数据中的亮点缺陷信息，进一步算出将所述检测对象卷材内的亮点缺陷数除以所述检测对象卷材的长度所得到的每个单位长度的亮点缺陷数；

所述卷材品质判断部，根据所述算出的每个单位长度的亮点缺陷数来判断卷材是否为不合格；

所述每个单位长度的亮点缺陷数的算出，是通过所述自动光学检测机在所述亮点缺陷之中区分被判断为OK的亮点缺陷和被判断为NG的亮点缺陷来分别进行的。

4.根据权利要求1所述的偏光膜卷材的品质判断系统，其特征在于，

所述检测结果数据中，包含通过所述自动光学检测机检出的缺陷图案信息，所述图案信息包含所述缺陷的宽度、长度、形态、圆形性、线形性信息；

所述缺陷数据分析部，通过使用所述图案信息之中的至少一个来将重要缺陷进行数值化处理，进一步算出检测对象卷材的重要缺陷数或者每个单位长度的重要缺陷数；

所述重要缺陷包含：TAC膜的皱褶、PVA膜的皱褶、下部TAC膜的不均匀、涂层的条纹、粘结层的条纹以及挤压性的条纹之中的至少一个；

所述卷材品质判断部，在所述重要缺陷数或者所述每个单位长度的重要缺陷数在规定的允许值以上时，将所述检测对象卷材判断为不合格卷材。

5.根据权利要求1所述的偏光膜卷材的品质判断系统，其特征在于，

所述缺陷数据分析部，分别算出所述检测对象卷材的每个第一单位区域的缺陷产生密度以及每个第二单位区域的缺陷产生密度；

所述第一单位区域相当于将所述检测对象卷材划分为N×M的行列形态的时候的各个区分区域，所述第二单位区域相当于将所述检测对象卷材的长度分成L等份的时候的各个区分区域；

所述缺陷密度异常区域数，相当于将所述每个第一单位区域的缺陷产生密度为第三允许值以上的第一单位区域的数，和所述每个第二单位区域的缺陷产生密度为第四允许值以上的第二单位区域的数，进行相加的值。

6.根据权利要求1所述的偏光膜卷材的品质判断系统，其特征在于，

所述缺陷数据分析部，对于未实施涂层状态的偏光膜卷材以及实施涂层状态的偏光膜卷材，分别进行所述每个单位区域的缺陷产生密度的算出；

所述卷材品质判断部，在下述的其中任意一个情况下将偏光膜卷材判断为不合格卷材，即：对于所述未实施涂层状态的偏光膜卷材，其未实施涂层的缺陷密度异常指数在规定的第五允许值以上的情况；以及对于所述实施涂层状态的偏光膜卷材，其实施涂层的缺陷密度异常指数在规定的第六允许值以上的情况。

7.根据权利要求6所述的偏光膜卷材的品质判断系统，其特征在于，

所述缺陷数据分析部，对所述未实施涂层的缺陷密度异常指数赋予了第一加权值的值，和对所述实施涂层的缺陷密度异常指数赋予了第二加权值的值，进行相加而算出密度异常加和指数；

所述卷材品质判断部，在所述算出的密度异常加和指数在规定的第七允许值以上时，将所述偏光膜卷材判断为不合格卷材。

8.根据权利要求7所述的偏光膜卷材的品质判断系统，其特征在于，与所述密度异常加和指数进行大小比较的所述第七允许值，是根据通过所述自动光学检测机判断为NG的缺陷未被标记的几率的缺陷遗漏率来计算。