[发明专利]磁粉或磁悬液显示能力测试仪

说明书

技术领域

本发明涉及无损检测领域，尤其涉及一种磁粉探伤检测用的磁粉或磁悬液的显示能力测试仪。

背景技术

无损检测（Non-destructive Testing，NDT），又称无损探伤，是指在不损伤被检测对象的条件下，利用材料内部结构异常或缺陷存在所引起的对热、声、光、电、磁等物理量的变化，来探测各种工程材料、零部件、结构件等内部和表面缺陷。无损检测被广泛用于金属材料、非金属材料、复合材料及其制品以及一些电子元器件的检测。

磁粉探伤(magnetictesting)是无损检测中最常用的一种，其通过磁粉或磁悬液在物体缺陷附近漏磁场中的堆积来检测物体表面或近表面处的缺陷，被检测物体必须具有铁磁性。具体的，铁磁性材料工件被磁化后，会在缺陷处形成漏磁场，在工件表面施加磁粉或者磁悬液，磁粉/磁悬液颗粒会被漏磁场吸附形成磁痕，从而显示缺陷的位置、大小和方向等信息。磁粉/磁悬液在一定强度的磁场中的流动、被吸附和聚集能力共同影响其形成磁痕的能力，也就是磁粉/磁悬液的显示能力。磁粉/磁悬液的显示能力是衡量其是否合格的一个重要指标。

固定式磁粉探伤机可以通过调节磁化工件时的电流大小来调节控制磁场的大小，通过具有人工缺陷的试片/试块来验证磁悬液的显示能力。但是，一般固定式探伤机体积庞大，主要用于固定产品的磁粉探伤检测，不适用于实验室测试磁悬液样品的显示能力的测试，同时固定式磁粉探伤机不能对干法磁粉进行显示能力测试，便携式探伤仪无法提供可控制大小的磁场。

发明内容

本发明的目的在于：针对上述现有技术存在的问题，提供一种方便小巧准确的磁粉或磁悬液显示能力测试仪。

本发明的目的通过以下技术方案来实现：

一种磁粉或磁悬液显示能力测试仪，其包括：显示装置，包括显示试块、为显示试块提供磁场的中心导体、以及为中心导体通电的连接电极，所述显示试块上设有人工缺陷；磁化电源，连接到连接电极，为连接电极提供可调节的磁化电流；退磁装置，包括连接到连接电极的退磁器，用于为显示试块退磁；控制装置，电连接磁化电源和退磁装置，包括开启磁化电源的磁化开关，开启退磁装置的退磁开关，以及调节磁化电源的磁化电流的电流调节机构；指示装置，包括指示磁化电源的磁化电流值的电流表。

优选的，所述显示试块为环状，中央具有通孔，所述中心导体穿过所述通孔，且所述显示试块的中心轴线和所述中心导体的纵向中心轴线重合，显示试块位于所述中心导体纵向的中央。

优选的，所述显示试块的环形部分还设有轴向通孔。

优选的，所述轴向通孔至少为两个，所述轴向通孔中的至少一个到显示试块的外圆周面的距离和其他轴向通孔到显示试块的外圆周面的距离不相等。

优选的，所述显示试块的环形端面上设有多个裂纹，所述多个裂纹的大小和深浅不相同。

优选的，所述中心导体为紫铜、显示试块为锻钢。

优选的，所述显示试块的下方设有收容装置。

优选的，所述磁化电源包括可控硅、变压器和触发电路板。

优选的，还包括照明装置，所述照明装置包括紫外线灯或白光灯。

优选的，还包括照明装置，所述照明装置包括紫外线灯和白光灯，所述紫外线灯和白光灯各有控制开关。

本发明的有益效果主要体现在：通过提供标准的显示试块和可调节的磁化电流，为磁粉或磁悬液的显示能力提供了方便、准确、可参考比较的测试平台；通过在显示试块上设置种类和规格不同的人工缺陷，直观、准确的展现磁粉或磁悬液的显示能力；通过提供可选的紫外线灯和白光灯，为荧光型或非荧光型磁粉或磁悬液均提供了照明光源，增加了测试结果在各种情况下的可读性；通过设置收容装置，方便地收集测试时施加掉落以及退磁后掉落的磁粉或磁悬液，保证测试台位的整洁。

附图说明

下面结合附图对本发明作进一步的说明。

图1为本发明的优选实施例的结构框图。

图2为本发明的优选实施例的中心导体和显示试块主视图。

图3为本发明的优选实施例的中心导体和显示试块左视图。

其中。