[发明专利]基于微控制器的太赫兹时域光谱样品自动测试装置

权利要求书

1.一种基于微控制器的太赫兹时域光谱样品自动测试装置，其特征在于包括太赫兹样品测试装置和控制系统，太赫兹样品测试装置包括样品盘(1)、样品池(2)、定位孔(3)、步进电机(4)、光电装置(5)、测试平台(6)、太赫兹测试孔(7)、调平螺母(8)、水平仪(9)、压紧弹簧固定装置(10)、压紧弹簧(11)、金属弹片(12)、样品池内孔(13)和样品池外孔(14)，调平螺母(8)安装在测试平台(6)底部的四角，水平仪(9)安装在测试平台(6)的上表面，光电装置(5)与步进电机(4)固定在测试平台(6)的上表面的凹槽处，太赫兹测试孔(7)贯穿测试平台(6)的前后表面，样品盘(1)固定在步进电机的输出轴上，一个以上的样品池(2)、压紧弹簧固定装置(10)、压紧弹簧(11)、金属弹片(12)均匀的分布在样品盘(1)的四周，压紧弹簧(11)一端通过压紧弹簧固定装置(10)固定在样品盘(1)上，金属弹片(12)连接在压紧弹簧(11)的另一端，定位孔(3)分布在样品盘(1)的外缘，并靠近样品池(2)；控制系统包括微控制器、电源电路、按键电路、语音电路、报警电路、液晶显示电路、LED指示电路、步进电机驱动电路、光电定位电路，微控制器分别与电源电路、按键电路、语音电路、报警电路、液晶显示电路、LED指示电路、步进电机驱动电路、光电定位电路相连。

2.根据权利要求1所述的一种基于微控制器的太赫兹时域光谱样品自动测试装置，其特征在于所述的电源电路为：电源接口J1的端口1与按键开关S1的端口2相连接，电源接口J1端口2与按键开关S1的端口5 相连，按键开关S1的端口6接地，按键开关S1的端口2与二极管D1的阳极相连，二极管D1的阴极与电容C1的正极、电容C2的一端以及芯片U6的端口1相连，电容C1的负极接地，电容C2的另一端接地，芯片U6的端口3和芯片U6的端口5接地，芯片U6的端口2与二极管D4的阴极以及电感L1的一端相连，芯片U6的端口4与电感L1的另一端、电容C3的正极、电容C10的一端以及芯片U5的端口1相连，二极管D4的阳极、电容C3的负极和电容C10的另一端接地，芯片U5的端口3与电阻R1的一端相连，电阻R1的另一端与发光二极管D3的阳极相连，发光二极管D3的阴极接地，芯片U5的端口2接地，芯片U5的端口5和芯片U5的端口6不与任何器件相连接，芯片U5端口4与N沟道MOS管Q1的栅极相连，N沟道MOS管Q1的源极与电源和芯片U5的端口1相连接，N沟道MOS管Q1的漏极与电源芯片U5的端口1以及二极管D2的阴极相连，二极管D2的阳极与电源相连，二极管D14的阳极与电阻R11的一端相连，二极管D14的阴极接地，电阻R11的另一端、电容C4的一端以及电容C11的一端与电源相连，电容C4的另一端以及电容C11的另一端接地。

3.根据权利要求1所述的一种基于微控制器的太赫兹时域光谱样品自动测试装置，其特征在于所述的LED指示电路为：芯片U7的端口4以及芯片U7的端口5接地，芯片U7的端口6与电阻R12的一端以及电容C12的一端相连，电阻R12的另一端与电源连接，电容C12的另一端接地，芯片U7的端口9接地，芯片U7的端口10与电阻R5的一端相连，电阻R5的另一端与发光二极管D8的阴极相连，二极管D8的阳极与电源相连，芯片U7的端口11与电阻R6的一端相连，电阻R6的另一端与发光二极管D9的阴极相连，二极管D9的阳极与电源相连，芯片U7的端口12与电阻R7的一端相连，电阻R7的另一端与发光二极管D10的阴极相连，二极管D10的阳极与电源相连，芯片U7的端口13与电阻R8的一端相连，电阻R8的另一端与发光二极管D11的阴极相连，二极管D11的阳极与电源相连，芯片U7的端口14与电阻R9的一端相连，电阻R9的另一端与发光二极管D12的阴极相连，二极管D12的阳极与电源相连，芯片U7的端口15与电阻R10的一端相连，电阻R10的另一端与发光二极管D13的阴极相连，二极管D13的阳极与电源相连，芯片U7的端口16、芯片U7的端口7不与任何器件连接，芯片U7的端口18与电源连接。